Bowman美国博曼专注高精度台式镀层测厚仪

美国博曼（Bowman）是高精度台式镀层测厚仪供应商，拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统，可精准高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素，其中任何两层元素可以是合金。同时，博曼XRF系统也可以测量高熵合金（HEAs）。

博曼（Bowman）是一家集设计，研发和制造XRF镀层测量系统的专业制造商。同时，博曼XRF系统在中国，日本，韩国，印度，菲律宾，德国，意大利等海外市场也拥有广泛且忠实的用户群。

博曼XRF射线装置利用X射线荧光原理测量镀层和成分。样品被来自射线管的射线轰击，产生荧光。通过荧光的能量我们可以知道样品中存在哪些元素，通过XRF的强度我们可以分析获得样品的厚度和每个元素的成分。

能量分辨率、检测效率和鲁棒性是与检测器相关的三个因素。 能量分辨率是分离具有小能量差的两个光子的能力。 检测效率是指 X 射线记录的效率。 所有 Bowman XRF 系统都使用硅漂移探测器的先进固态探测器技术。

G系列XRF是实验室和生产线的理想选择，特别是在用户拥有：

• 预留摆放空间小
• 预算有限
• 优先使用电动Z轴进行“自下而上”操作
• 需要快速，轻松地定位较小的样品
• 需要符合 IPC-4552、4553、4554 和 4556
• STM B568 和 ISO 3497
• 级旧的XRF的性能和效率–并获得丰厚的以旧换新奖励！
• 符合RoHS要求

B系列可满足以下类型用户的需求：

• 测试量要求相对较低
• 较大的样品，每个零件需要一个测试位置
• 大型线路板镀层的抽检
• 预算限制，可以选择以后升级组件
• 保证符合 IPC-4552、4553、4554 和 4556
• ASTM B568 和 ISO 3497
• 渴望升级旧的XRF的性能和效率–并获得丰厚的以旧换新奖励！奖奖励！

K 系列 XRF *适合有以下要求的客户：

• 保证符合 IPC-4552、4553、4554 和 4556
• **的人体工程学设计：轻松访问、可编程载物台、灵活的行程
• 符合 ASTM B568 和 ISO 3497 标准
• RoHS 能力

O系列可满足以下类型用户的需求：

• 极小的样品，如半导体，连接器或PCB
• 需要测试多个样品的多个位置
• 需要测量非常薄的涂层（<100nm）
• 需要在短时间内完成测量（1-5秒）
• 保证符合 IPC-4552、4553A、4554 和 4556
• ASTM B568 和 ISO 3497
• 渴望升级旧的XRF的性能和效率–并获得丰厚的以旧换新奖励！

M系列可满足以下类型用户的需求：

• 非常小的样品，主要应用于半导体，连接器或PCB领域
• 需要测试多个样品的多个位置
• 非常薄的涂层（<100nm）
• 需要在短时间内完成测量（1-5秒）
• 保证符合 IPC-4552、4553、4554 和 4556
• ASTM B568 和 ISO 3497
• 渴望升级旧的XRF的性能和效率–并获得丰厚的以旧换新奖励！

W系列Micro XRF是*理想的选择公司：

• 需要检测晶圆，引线框架，PCBs
• 需要快速测量多个样品的多个点
• 期望在多个样品上实现自动化测量
• 需要符合 IPC-4552、4553、4554 和 4556
• ASTM B568 和 ISO 3497
• 渴望升级旧的XRF的性能和效率–并获得丰厚的以旧换新奖励！