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日本株式会社电测DensokuX射线荧光/便携式/涡流/电阻/电解涂层测厚仪

自1952年成立以来,我们凭借丰富的膜厚测量设备阵容,为日本的表面处理行业做出了贡献,其中包括被国际贸易和工业部制定JIS标准时采用的膜厚计作为标准测量仪器,并开发了**于行业的电解膜测厚仪。目前,荧光X射线、电解型、涡流型等各种膜厚仪已被引入工业测试实验室、各检验协会、各公司研究实验室,主要集中在电镀加工商和汽车工业领域,并获得了各个领域的高度信任。许多客户的支持带动了我们公司的成长。 我想借此机会表示*深切的感谢。

在电子测量领域,我们正在开发满足客户要求的测量条件的产品,例如涂层、基材和薄膜厚度。 除了基于多年经验和专业知识培养的技术能力外,我们认为,我们产品开发的基础很大程度上归功于我们努力开发人力资源,以磨练我们作为咨询合作伙伴的能力,以便我们能够在服务方面为客户提供*佳解决方案。

我们的员工始终思考“什么需要立即进行客户的测量”,并努力确保客户可以放心地使用服务,从设备选型到新开发,再到定制定制,以及定期校准和引进后的检查和维修等售后跟进服务。

作为膜厚测量设备领域的龙头企业,我们将继续通过进一步增强技术能力、提高质量、提高可靠性,为表面处理和质量控制的改进和发展做出贡献。

代表董事 Hiroshi Nakamura


主要产品


X射线荧光涂层测厚仪

X射线荧光膜厚度EX-851X射线荧光膜厚度EX-851X射线荧光膜厚度EX-851

电解涂层测厚仪

电解涂层测厚仪GCT-311电解涂层测厚仪GCT-311电解涂层测厚仪GCT-311


涡流涂层测厚仪

多点同步测量涡流涂层测厚仪涡流涂层测厚仪DMC-211涡流涂层测厚仪DMC-211


电阻涂层测厚仪

电阻涂层测厚仪RST-231


便携式涂层测厚仪

QNIx 系列

QNIx 8500型/QNIX4500/4200 系列/QNIx 7500 系列/QNIX Carcheck系统/QNIX 便携

日本株式会社电测DensokuInstrumentsCo,Ltd,薄膜厚度测量的历史就是静电测量的历史。 通过开发**于行业的电解膜测厚仪,为日本的表面处理行业做出了贡献。 我们将继续**行业,支持客户产品质量的改进和发展。

1952 代表董事Iwao Kaihara以2,000,000日元的资本成立了Showa Keiki Industry Co., Ltd.,并成为Elcomator在英国的日本经销商
1955 与美国Cocour, Inc.结成销售联盟,成为远东地区**经销商
1957 与U.P.A.结成销售联盟,成为日本国内的经销商。
1966 与美国Co-Cour Inc.结成技术联盟,开始在国内组装Kokur电化学镀膜测厚仪。
1969 开发并开始生产和销售无损Dermes D-7涂层测厚仪。 与此同时,我们开始出口到其他国家。
1970 公司名称变更为电创工业株式会社,岩尾海原成为代表董事,资本金增至5,000,000日元。
1972 开发并推出新产品——数字电化学镀层测厚仪G-7。
1974 放射膜测厚仪Beta Technostar的研发与销售
1977 开发与销售涡流无损涂层测厚仪Dermes D-10,开发与
销售Beta-Technostar BT-3辐射涂层测厚仪
1978 1月:开发并推出Dermes D-10B涡流无损涂层测厚仪。
5月:开发并推出Beta Technostar BT-4放射性涂层测厚仪。
1981 12月:开始开发和销售Beta-Technostar BT-5放射性涂层测厚仪。
1982 3月:开发并开始销售
EF-1000电解涂层测厚仪 6月:开发并开始销售涡流无损膜测厚仪Dermes DS-1和DS-1P
1983 5月:开发并推出G-7和GP-8电解膜测厚仪。
6月:开发并推出Super Nickel SN-7。
1984 6月:EX-8080 X射线荧光膜测厚仪的开发、展示和原型制作12月
:EX-8000 X射线荧光膜测厚仪开始开发和销售。
1986 5月:开始研发销售电脑型放射膜测厚仪BTC-55。
1987 6月:开发并推出DX-100涡流无损涂层测厚仪(电脑型)。
1989 3月:开发并开始销售EX-9000 X射线荧光膜测厚仪。
7月:开始研发销售电解型膜测厚仪(电脑型)GC-01。
8月:开始开发销售电磁(电脑型)MaG-A
1990 4月:资本金增至2000万日元。
1992 1月:公司名称变更为电装株式会社
1994 2月:开发并推出CT-1电解涂层测厚仪。
1995 4月:开发并开始销售CT-2电解涂层测厚仪。
1997 9月:开发并推出EX-2000 X射线荧光膜测厚仪。
2000 6月:开发并推出EX-3000 X射线荧光膜测厚仪。
2001 4月:开发并开始销售
D-20涡流涂层测厚仪 9月:开发并开始销售COSMOS-1X荧光X射线涂层测厚仪
2002 8月:开发并开始销售涡流型膜厚仪DMC-211。
2003 2月:开发并开始销售β射线型薄膜测厚仪BTC-21111月
:开发并开始销售RST-231电阻型薄膜测厚仪。
2004 11月:开发并开始销售GCT-311电解涂层测厚仪。
2006 5月:开发并发射COSMOS-2X。
8月:开发并推出电解涂层测厚仪CT-3。
8月:开发并推出涡流涂层测厚仪DS-110。
2008 9月:开发并开始销售电解CT-4膜测厚仪。
2009 2月ISO9001获得认证
2013 10月:开发并推出EX-731。
2015 11月:开发并推出COSMOS-3X X射线荧光膜测厚仪。
2021 7月:开发并开始销售电解CT-6膜测厚仪。