所在位置: 首页 > 公司新闻

日本Otsuka大塚电子株式会社:半导体膜厚、Zeta电位及纳米粒径
日本Otsuka大塚电子株式会社公司主营光谱仪、液晶Cell Gap特性、光刻胶及彩色滤光片色度、半导体膜厚、Zeta电位及纳米粒径、相位差(延迟)在线薄膜膜厚及透过率等测量设备

致力于让中国客户能安心使用已有50年历史的日本大塚电子所研发与生产的测量与分析设备。
我们的产品涵盖LED、OLED等光源和照明行业，产品包括有液晶和有机EL显示行业的光学特性评估与检测设备；用于测量半导体晶圆和薄膜化学品厚度的设备；以及评估墨水、研磨剂、医药和化妆品材料的纳米颗粒（粒径和ζ电位测量）设备，这些设备均应用了我们的“光”技术。
在日本，我们的产品拥有众多交付实绩。为提供**的售前和售后支持，我们设立了技术和维护中心，努力提供快速、令客户满意并能使客户感受到关怀和价值的服务。
我们致力于不断提升产品价值和支持服务，做到让客户能主动向他人推荐大塚电子的产品。
我们是大塚集团的一员，继承了集团的企业理念「Otsuka-people creating new products for better health worldwide」
以及大塚集团历代的3个思想，即「流汗悟道」「实证」「创造性」，并以此行动。我们推出**产品，开展业务，为社会做出贡献。
对于那些挑战可能性边界的人来说，天空是无限的。超越它，就会有一个全新的前沿世界。
利用大塚电子的技术“光”的力量，为业界提供解决方案是我们的使命。
Otsuka-people creating new products for better health worldwide
传承大塚的“实证与创造”精神，时刻为了实践“因为是大塚所以能做到”、"只有大塚才能做到"的口号而努力奋斗。
大塚电子，通过革新的且富有创造性的产品（设备)服务，在「健康和生活」的领域，不断地为人民的生活做着贡献。
日本Otsuka大塚电子株式会社公司主营光谱仪、液晶Cell Gap特性、光刻胶及彩色滤光片色度、半导体膜厚、Zeta电位及纳米粒径、相位差(延迟)在线薄膜膜厚及透过率等测量设备
ZETA电位·粒径测试系统·ELSZneoSE
ZETA电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-2000ZS
ZETA电位·粒径·分子量·ELSZ-2000ZS
多样品nano粒子径测量系统（带自动取样器）nanoSAQLA AS50
ZETA电位·粒径测试系统·ELSEneoSE
多样品纳米粒子径测试系统·nanoSAQLA
ZETA电位·粒径·分子量测试系统·ELSZneo
日本Otsuka大塚电子膜厚 · 厚度评估仪器
功能材料评估仪器
日本Otsuka大塚电子半导体评估仪器
FPD相关评估仪器
光源照明评价仪器
荧光评估仪器
Smart膜厚仪

显微分光膜厚仪 OPTM series
日本Otsuka大塚电子膜厚量测仪 FE-300
嵌入式膜厚检测仪
线扫描膜厚仪【在线型】
分光干涉式晶圆膜厚仪 SF-3
线扫描膜厚仪【离线型】
光波动场三次元显微镜
分光干涉式晶圆膜厚仪 SF-3
MCPD series 嵌入式膜厚测试型
OPTM series 嵌入型
多通道光谱仪 MCPD-9800 / 6800
Load Port对应膜厚测量系统 GS-300
嵌入式膜厚检测仪
显微分光膜厚仪 OPTM series
日本Otsuka大塚电子株式会社公司主营光谱仪、液晶Cell Gap特性、光刻胶及彩色滤光片色度、半导体膜厚、Zeta电位及纳米粒径、相位差(延迟)在线薄膜膜厚及透过率等测量设备,提供包括纳米粒度仪,粒径分析仪,zeta电位仪,zeta电位分析仪,膜厚测量仪,3D显微镜,膜厚分析仪,反射式膜厚仪,膜厚检测仪,晶圆检测设备,偏光片检测,光纤光谱仪,
上一篇：日本TML东京测器传感器|应变仪器测量与应用
下一篇：TSUBOSAKA壶坂电机株式会社:光学関連装置の設計・開発・製造技术中心