大塚电子株式会社主要经营范围:光电技术的研发，光电系统集成产品、工业测定和分析设备、仪器仪表及相关零部件的批发、进出口等。大豕为人类更健康而不断**，怀着「多样性」「**性」「世界化」的愿景，不断的推出**产品，面向全球开展业务，为社会作出贡献。以高速·高精度·高可靠性目有市场实际应用的分光器MCPD系列为基础， 在中国的显示器 市场上有着20年以上销售实例，为许多厂家在研究开发、生产部门所使用。并且在光源·照明 相关方面，对***研究机构、各个厂家的销售量在逐步扩大。
分光光谱仪:高感度分光光谱仪 紫外/可见/近红外光分光光谱仪 应用范围: 发光光谱分析仪系统 反射光谱分析仪系统 穿透、吸收光谱分析仪系统 色度光谱分析仪系统 光源光谱分析仪系统(色度/辉度/照度) 膜厚光谱分析仪系统 董光光谱分析仪系统 双折射相位差光谱分析仪 微光学元件光谱分析仪系统 产品规格: 分光光谱仪-2285C 分光光谱仪-3095C 分光光谱仪-3683C分光光谱仪-311C分光光谱仪-916C波长范围 220~850nm 300~950nm 360~830nm 360~1100nm 900~1600nm分光系统 平面场型 检测单位 电子冷却型CCD图像传感器 电子冷却型InGaAs图像传感器 512ch 1024ch 512ch 1024ch 512ch 1024ch 512ch 1024ch 512ch理论分辨率 1.4nm 0.7nm 1.4nm 0.7nm 1.0nm 0.5nm 1.6nm 0.8nm 1.9nm光纤规格 石英光纤、口徑φ12mm、长度约2m 掺锗石英光纤、长度约2m 星测功能 发光光谱量测、反射率光谱量测、穿透率光谱量测、吸收光谱量测尺寸重量 110(W)x230(H)x282(D)mm，约6kg 产品特点: *高动态范围(HDR)光谱仪可量测透明、低对比、高反射率样品，*适用于量测光通量。*有效抑制杂散光，*适合UV光谱分析。相较于本公司历代分光光度计，杂光率仅约五分之一*曝光时间5msec~65sec*。适用于量测微弱光源以及架设于生产线上即时检测等多元应用。"经过特殊设计缠系统光纤，展现稳定的重复再现性量测，*小巧轻量化的设计，相较于历代机型，容积比约减少60%。
紫外/可见/近红外光分光光谱仪 产品规格 型号规格28C311C3593C 波长范围 220~800 nm 330~1100 nm 350~930 nm 分光元件 全息成像光栅、F=3、f=135mm 波长精度*1 ±0,3 nm>±0.5 nm ±0.3 nm 感光元件*2 电子制冷型CCD影像感测器 512ch 1024ch 512ch 1024ch 512ch 1024ch解析能力 1.2nm 0.6nm 1.7nm 0.9nm 1.3nm 0.6nm 曝光时间*3 20msec~20sec 光纤规格 石英制光纤、固定口径12mm、长约1m 通讯介面 USB Or LAN 尺寸重量 300(W)x170(H)x350(D)mm、约10kg *1 波长校正用光源对汞物理辉线之确认值 *2 可选择512ch或1024ch *3 感度设定为Normal时 产品特点: *多通道分光光谱仪高速量测紫外光(UV)、可见光(VIS)、近红外光(NIR)光谱。 *功能丰富的专用软体，可进行显微分光、发光光源、表面反射率、穿透率、色度、膜厚等光谱量测。 采用更专业的CCD影像感测器，感光能力较MCPD-3700约高出200~700倍，在微弱光领域亦实现了20~30倍的高信噪比。 **适用于低辉度(0.3cd/m2)，如萤光、电浆发光等微弱光以及光源、显示器量测。 *搭配功能丰富的专用软体，可进行显微分光、发光光源、表面反射率、穿透率、色度、膜厚等光谱量测。 可架设于生产线上、真空环境或嵌入于现有设备中即时量测。
三.膜厚仪:显微分光膜厚仪 反射式厚量测仪 椭m 360~1100nm 900~1600nm膜厚量测仪 膜厚光谱分析仪系统 显微分光障厚是狈 仪 应用范围: * FPD ·LCD、TFT、OLED(有机EL) * 半导体、复合半导体 ·矽ct time Measurement Time 1秒/1 * 盗料储存 ·DVD、磁头薄膜、磁性材料 * 光学材料 ·滤光片、抗反射膜 *平面显示器 液晶显示器、薄膜电晶体、OLED *薄膜 ·AR膜 *其它 ·建筑用材料 产品规格 型号OP-A1OP-A2 OP-A3 波长范围 230~800nm 360~1100nm 900~1600nm 膜厚范围 1nm~35um 7nm~49um 16nm~92um 样品尺寸 Max.200mmx200mmx17mm 点径φp 5um(反射40倍镜头)，改造后可达到3um tact time Measurement Time 1秒/1点 尺寸本体(W555xD537xH559mm),控制单元(W500xD180xH288mm)功用750 VA *1上述式样是带有自动XY平台。 *2 release 时期 是OP-A1在2016年6月末、OP-A2、OP-A3预定2016年9月 *3 膜厚范围是Si02换算: 产品特点: *膜厚测量中必要的功能集中于头部, *通过显微分光高精度测量**反射率(多层膜厚、光学常数) *1点只需不到1秒的高速tact. *实现了显微下广测量波长范围的光学系(紫外~近红外) *通过区域传感器控制的**构造， *搭载可私人定制测量顺序的强大功能。 *即便是没有经验的人也可轻松解析光学常数, 各种私人定制对应(固定平台，有嵌入式测试头式样)
四.反射式膜厚量测仪:
控制单元自动stage 手动stage尺寸·重量300(W)mmx710(H)mmx450(D)mm约34kg 300(W)mmx380 (H)mmx450(D)mm约18kg
电源 规格AC100V+10V 750VA AC100V+10V 500VA