KOSAKA 台阶仪 | 薄膜测厚仪 | 微细形状测定机
● 该型号台阶仪采用直动式检出器，重现性高。
ET200A基于Windows 操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析，包括半 导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、 薄膜/化学涂层、平板显示、触摸屏等。使用金刚石（钻石）探针接触测量的方式来实现高 精度表面形貌分析应用。ET200A 能**可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨 损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。 ET200A 配备了各种型号探针，提供了通过过程控制接触力和垂直范围的探头，彩色CCD 原位采集设计，可直接观察到探针工作时的状态，更方便准确的定位测试区域。
KOSAKA 台阶仪 | 薄膜测厚仪 | 微细形状测定机 型号：ET4000系列 是否进口：进口 产品概述： ● 高精度．安定性．机能性**适合于FPD基板·晶圆硬盘等的微细形状、段差、粗度测定的机型。 ● 是多机能的全自动微细形状测定机，针对用途及样品尺寸有多种机型可供选择。 ● ET4000A/ ET4000AK一可实现2D/3D表面形状测量。 ● ET4000M一高性能的泛用微细形状测定机。 ● ET4000L一对应大型工件的全自动微细形状测定机。 ● ET4300一适合12"样品测量。 ●各机型详细参数请与区域销售联系。
台阶仪可以应用在半导体，光伏/太阳能，光电子，化合物半导体，OLED，生物医药，PCB封装等领域的薄膜厚度，台阶仪测量薄膜厚度,台阶高度，粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），划痕深度，磨损深度，薄膜应力（曲定量率半径法）等定量测量方面。其高精度，高重复性，自动探索样品表面
KOSAKA 台阶仪 | 薄膜测厚仪 | 微细形状测定机 型号：ET10000 是否进口：进口 产品概述： ● 对应大面积样品段差测定的全自动机型。 ● 机台尺寸可根据样品/工件尺寸订制。 ● 针对生产线全自动大型工件开发，可搭配机械手臂自动进退样品。 ● 订制型机型详细参数请与我公司联系。