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光谱薄膜厚度测量 TFW-100

一种低成本的光谱薄膜厚度测量仪器,应用于工业领域。

非接触式且无损性的,因此可以在短时间内轻松测量,而不会损坏样品。

被广泛应用于研发领域,用于胶片厚度测量和在线质量控制。

以低价实现了高精度和高稳定性。

<功能>
·可进行非接触式、无损膜厚度测量。
·厚度*高可达10nm~1000μm,支持测量多达3层薄膜厚度。
·它不仅能测量胶片厚度,还能测量光学倍增管(n,k)。
(*多3项参数)
·支持微点。
·彩色滤光片颜料薄膜厚度也可测量。