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低成本平面基板透射/反射率测量单元LV-RTM

一种极其紧凑且成本低廉

的平面基底透射/反射率测量装置。

这是一种非常紧凑的平面基板透透/反射率测量单元,可以安装在桌面上。

通过积分球,测量可以“轻松”、“任何人”且“可重复”,成本低。

此外,该测量方法对样品厚度或倾斜变化的影响较小。

<特征>

外径值(吸光度)也可以测量。

·颜色可通过CIE和UCS地图直观识别。

·遮光罩能阻挡散射光。

规格

测量波长 380nm~1000nm(卤素灯)
*300nm~范围请另行咨询
测量细节 LV-RTM(R) 反射率
LV-RTM(T) 透射率
LV-RTM(RT) 反射率/透射率

重复性 ±1%(380nm~400nm)
±0.5%(400nm~800nm)
±1%(800nm~1000nm)
反射参考 BK7参考板,铝高反射率参考板(校准值在LV)
透明度参考 10%和50%透射率参考滤波器(校准值为LV)
软件 透射率、反射率、外径、色彩测量(XYZ、xy、L*a*b*等)