美国Filmetrics薄膜厚度仪F20,F30,F40,F50,F60,F3-XXT
美国Filmetrics薄膜厚度仪F20,F30,F40,F50,F60,F3-XXT
美国Filmetrics创建于 1995 年的美国 Filmetrics, Inc. 公司， 以提供简单而价格合理的薄膜测量仪器为宗旨。 在我们进入这个市场之前，薄膜测量仪器动辄就要 $50,000 美元或更多，并且需要高难度的培训。 单次测量就要花长至一个小时时间。
美国Filmetrics的薄膜测量仪器是完善的微电子和软件技术的结晶。测量时间只需要几秒钟。操作人员仅需要简短的培训。
研究开发杂志
1997年，美国Filmetrics F30 产品当选 “研发 100 大奖”。
2002年，美国Filmetrics 的厚度成像技术当选 “研发 100 大奖”。
光子光谱杂志
1998年，美国Filmetrics F20 被评为 “25 项*佳新产品”。
美国Filmetrics对永续发展的承诺美国Filmetrics公司致力于永续发展的商业行为这里有一些范例关于我们近期所做的努力
美国Filmetrics已经安装了60kW的太阳能光伏在我们圣地牙哥的总部大楼。
美国Filmetrics总部大楼做的其他改善包含
具备两座3级电动车充电器，提供公众免费使用
随处可见的可调式LED照明光源，具备日光补获光照系统目前正在持续开发
封闭式的自行车储物柜供骑脚踏车上班的员工使用
评估备用电源的管理，我们放置了许多的定时器(24/7)在许多的办公室设备上(打印机，电池充电站，咖啡机等)
另外
美国Filmetrics已经将我们大多数的产品改用可回收的Korrvu包装材料
美国Filmetrics已经尽可能改用笔记型电脑与高效能桌上型电脑
美国Filmetrics将继续转换到更环保的产品材料。 （例如，挤压成形的ABS与铝合金材料相比消耗较少的能源，同时重量上也较轻因而降低了货运重量
美国Filmetrics将会喜欢听到来自于你们的其他意见
F20 系列
世界上*畅销的台式薄膜厚度测量系统
只需按下一个按钮，您在不到一秒钟的同时测量厚度和折射率。设置同样简单, 只需插上设备到您运行Windows™系统计算机的USB端口, 并连接样品平台 , F20已在世界各地有成千上万的应用被使用. 事实上，我们每天从我们的客户学习更多的应用.
选择您的F20主要取决於您需要测量的薄膜的厚度（确定所需的波长范围）
美国Filmetrics薄膜厚度仪F20,F30,F40,F50,F60,F3-XXT型号规格
一、核心原理与构成
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测量原理：白光光谱反射法（380–1050nm 卤素光源），分析薄膜上下表面干涉反射光谱，秒级解算厚度、折射率 n、消光系数 k。
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系统组成：主机（光源 + 光谱仪）、光纤探头、测量支架、FILMeasure 软件、标准片。
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安装：USB 即插即用，Windows 系统，5 分钟 setup，1 秒出结果。
二、关键参数（标准版 F20）
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波长范围：380–1050nm（可见光）
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厚度范围：15nm – 70μm（单层 / 多层）
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精度 / 分辨率：0.02nm；准确度：1nm 或 0.2%（取大）
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光斑大小：1.5mm（可选 20μm 显微探头）
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材料库：内置 **500+** 常用材料（SiO₂、Si₃N₄、光刻胶、ITO、UV 胶、三防漆等）
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样品要求：光滑、透明 / 半透明、低吸收；平面 / 曲面均可
三、型号变种（按需选）
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F20：380–1050nm，15nm–70μm（通用）
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F20-EXR：380–1700nm，15nm–250μm（厚膜 / 近红外）
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F20-NIR：950–1700nm，100nm–250μm（红外专用）
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F20-UV：190–1050nm，1nm–40μm（超薄 / 紫外敏感膜）