显微光谱仪薄膜厚度计OPTM系列

它可以测量涂层薄膜（如各种薄膜、晶圆和光学材料）以及多层薄膜的厚度，且无破坏性或接触。它支持以每点1秒的速率进行高速测量。此外，它配备了软件，即使是初学者也能轻松分析光学常数。

特色：

• 胶片厚度测量所需的功能整合到头部
• 利用显微光谱进行高精度**反射率测量（多层薄膜厚度，光学常数）
• 高速测量速度在每秒1点以内
• 在显微镜下实现宽波长范围的光学系统（紫外~近红外）
• 使用区域传感器的**机制
• 简易分析向导支持光学常数分析，即使是初学者也适用
• 配备可定制的宏观测量序列功能
• 能够分析复杂的光学常数（多点分析方法）
• 兼容300毫米级
• 支持多种自定义

规格：

量测项目

• **反射率测量
• 薄膜厚度分析
• 光学常数分析（n：折射率，k：衰变系数）