Otsuka大塚MINUK 光波动场三次元显微镜（3D Optical Wave Field Microscope），采用波前传感全息相位成像技术，无需物镜成像透镜，非破坏、非接触、无标记观测透明 / 半透明样品，单次拍摄一次性获取 X‑Y 平面 + 全部 Z 深度三维信息，测量完成后软件可任意数字重对焦，专门捕捉普通显微镜看不见的纳米级透明异物、内部缺陷、层间气泡、缝隙。
特点
1.凭借宽视野（ 700μm）与高分辨率 （488nm） ，在测量对象中搜寻异物中无需耗费精力
以往，由于视野范围狭窄，在查找异物等目标位置时，不得不反复扫描被测对象的全域。 MINUK 无需通过成像光学系统，可直接记录样品光，从根本上解决了透镜的像差问题，实现大深度、宽视野、无像差的成像效果。
2.可捕捉深度 1400μm 的全域信息，支持任意高度切片观测1次测量即可获取相当于数千张图像的信息量
以往，无论需要观测的位置在哪里，都需要持续拍摄数千张图像才能定位目标区域。而 MINUK 可瞬时完成 700×700μm 平面范围、1400μm 深度方向的信息采集。设备以约 2μm 的轴向分辨率生成约 700 张切片图像，通过对这些数据进行数字重聚焦处理，即可对样品三维结构开展追加验证分析。
3.将透过率和折射率的三维分布可视化，将肉眼无法看到的纳米级表面形状数值化 以往传统设备难以完成对焦操作，无法实现数据量化分析。而MINUK可对人眼不可见的纳米级表面形貌进行定量测量，还能检测微小的折射率变化。
规格参数
分辨率 x , y 6 9 1n m（ 一次拍照）、4 8 8 n m（ 合成） 视野 x , y 7 0 0×7 0 0μm 分辨率 z 10nm（相位差） 视野 z ±700μm 样品尺寸 10 0×8 0×t 2 0 mm（安装通用样品架时） 样品台 微动X Y样品台（自动） X:±10 mm Y：±10 mm 粗动样品台 X：12 9 mm Y：8 5 mm 激光 波长 6 3 8 nm 输出 0 .3 9 mW 以下 C la s s1 ( 对测量样品的照射强度) 尺寸（长×宽×高）mm 本体：5 0 5（W）×6 3 0（D）×4 3 9（H） ± 2 0 m m ※不含P C、附属品 重量 41k g 功耗 本体：2 9 0 VA ※不含P C、附属品