北京半导体设备商-MESSA优势推荐日本东京精密ACCRETECH探测机UF190R系列 特征 它对4到 8 英寸晶圆进行转移和测试。 采用MMI,与UF2000相同。 多种选项可实现该行业不标准的各种晶圆测试。 选项 通过特殊的传送机构传送翘曲和超薄晶圆 通过特殊机制进行 SEMS 传输 微电流测试环境 高压测试环境 针道检测功能
北京半导体设备商-MESSA优势推荐日本东京精密ACCRETECH探测机UF190R系列
特征
它对4到 8 英寸晶圆进行转移和测试。
采用MMI,与UF2000相同。
多种选项可实现该行业不标准的各种晶圆测试。
选项
通过特殊的传送机构传送翘曲和超薄晶圆
通过特殊机制进行 SEMS 传输
微电流测试环境
高压测试环境
针道检测功能
大范围
200 mm(水平方向)和 13 mm(垂直方向)的宽测量范围
也可提供电动倾斜装置,可倾斜至 45°。(SURFCOM CREST-T)
晶圆制造
ACCRETECH-TOKYO SEIMITSU 主要从事销售:晶圆切片机等设备,将硅晶锭切割成称为晶圆的硅衬底,并在其上进行半导体加工;以及对晶片边缘进行倒角的晶片边缘研磨机。
前端
半导体制造商 70% 以上的投资投入到半导体生产中必不可少的前端或晶圆加工。Tokyo Seimitsu 通过支持**测试和后端设备,并提供前端设备(如 CMP 等平面化晶圆表面的设备),在此过程中拥有久经考验的经验。
晶圆测试
在晶圆测试中,我们的探测机可对晶圆上各种器件的电气特性进行 100% 检测。
后端
后端处理是指组装和*终测试。ACCRETECH-TOKYO SEIMITSU 制造和销售在单*设备中结合了******的晶圆厚度和损伤去除功能的抛光研磨机,用于背面研磨工艺以抛光晶圆背面。我们亦从事晶圆切割机的制造及销售,以将具有微观电路图案的晶圆切割成单个芯片。