HORIBA堀场集团向各行业领域提供高品质的分析与测试仪器，49家分公司遍布全球27个国家。 

我们的业务涉及汽车测试、科学仪器、过程和环境仪器、体外诊断和半导体仪器等。我们已在全球市场展示出自己的优势，尤其在汽车排放和烟道气测量、空气污染、水污染监控、不同行业的质控以及临床诊断等领域。过去几年来，我们取得了长足发展。让我们感到高兴和自豪的是，我们的分析和测量业务为全球的环保、**和健康事业做出贡献，并为解决能源问题助一臂之力。我认为正是这种自豪感促使我们提供更具竞争力的产品。 

拥有自豪感和勇于挑战的精神，以充沛的体力和激情投入到工作中去，谱写一个更加令人满意的人生。我们将更加快乐过好每**的愿望融入企业哲学，这一精神自企业创建以来一直代代相传。遍布全球的大约7,000名堀场人（这样称呼的原因是我们把堀场集团的所有员工都看成是一家人）是我们企业发展的源泉，他们能够正确理解“新奇、有趣”这一企业哲学，并在日常工作和生活中很好地贯彻。 

我们将一如既往地以自豪的态度和勇于迎接挑战的精神为社会做出贡献。 

X射线荧光光谱仪（XRF）

HORIBA’s XGT系统提供了高性能的能量色散X射线荧光分析（EDXRF）。**XGT(X射线导管)技术（**号：JPWO2018110260;国际**分类 G01N 23/223） 结合传统的X射线荧光分析技术实现了对微区的分析，X射线导管尺寸直径从3mm到*小的10μm保证了分析灵活性，可以进行定性和定量分析，也可以对单个微观颗粒进行分析，同时成像功能提供了元素分布的细节图像。

受益于 HORIBA的X射线荧光技术的应用包括法医学、地质学、材料、生物学/医学、电子学、考古学、发动机磨损分析、制药和 RoHS/ELV 合规性测试。

X射线荧光光谱仪（XRF）：XGT-9000微区X射线荧光分析仪//MESA-50

X 射线荧光分析仪//MESA-50KX射线荧光分析仪

国内总代原装进口华东总办事处日本HORIBA堀场微区X射线荧光分析仪XGT-9000 国内各区域均有售

速度和灵活性兼备是微区 X 射线荧光光谱的发展方向

• <15µm 超高强度X射线头，兼具高灵敏度和高空间分辨率
• 高分辨相机和多种照明模式成像
• 双检测器！荧光X射线检测器和透射X射线检测器
• 轻元素检测器使元素检测范围下延到C元素

XGT-9000是如何保证高性能下的速度和灵活性

激发系统 XGT-9000 以其精心设计的激发系统保证**性能和灵活性，X射线发生器具有高达 50 kV 和 1000 µA 的高输出。 此外可以通过我们多样化的X射线头提供多种尺寸（10μm - 1.2mm）的激发用初级 X 射线，其中就包括超高强度X射线头（probe），以实现快速测量。
光学图像 抓取清晰的图像对于微区XRF至关重要，XGT-9000 提供高分辨率相机，可以获取整个样品及其细节显微镜水平的图像。同时，多种照明模式保证图像的清晰度，即便是透明或有较强反射的样品。
样品仓 XGT-9000 样品仓可容纳各种样品，包括微型碎片、印刷电路板、硬币、薄片、粉末、液体、晶圆，并根据需求提供各种样品架，此外*多可以选择 4 种测量环境来提高灵敏度。
检测器 XGT 9000提供透射和荧光X射线双探测器，透射X射线检测器使用户能够检测样品的内部缺陷和异物，而荧光X射线检测器（配置轻元素检测器）检测范围可从C到Am。
软件套件 功能强大的XGT 9000 软件，包括**完整的基本测试功能，如单点测试、多点测试、线分析和Mapping测试等。除了基本测试功能外，还可以在软件套件中添加**模块，以提供更丰富的用户体验。 多层FPM模块可以进行厚度测试，有无标样都可以进行 RoHS检测模块用于RoHS要求的有害元素筛查 队列模块自动进行多区域自动测试 颗粒搜寻模块可以进行颗粒分析以及原位分析 LabSpec Link模块，将数据导入到LabSpec 6以进行多变量分析

型号	XGT-9000	XGT-9000SL
基本信息
仪器	微区X射线荧光分析仪
样品类型	固体、液体、颗粒
检测元素	轻元素检测器：C* – Am (常规检测器：F – Am)
样品仓尺寸	450(W) x 500(D) x 80(H)	1030(W) x 950(D) x 500(H)
*大样品尺寸	300(W) x 250(D) x 80(H)	500(W) x 500(D) x 500(H)
样品*大质量	1 kg	10 kg
光学观察	两个带物镜的高分辨率相机
光学设计	垂直同轴 X 射线和光学观察
样品照明/观察	顶部、底部和侧向照明/明场和暗场
X-射线管
功率	50 W
电压	*高50 kV
电流	*大1 mA
靶材	Rh
X射线光光学系统
X射线头数量	*多配置四个
光谱优化初级X-射线滤光片	5个位置
检测器
荧光X-射线检测器	硅漂移检测器（SDD）
透射X射线检测器	NaI(Tl)
扫描分析
扫描范围	100 mm x 100 mm	350 mm x 350 mm
步进尺寸	2 mm	4 mm
Operating mode
样品环境	全真空/局部真空/大气环境/He吹扫（选配）	局部真空/大气环境/He吹扫（选配）*He吹扫条件对于两个检测器都检测到C和F是必要的。

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Dimensions (unit: mm)