株式会社小坂研究所（KOSAKA）是于 1950 年创立的公司，也是日本一家发表光学杠杆表面粗糙度计，是一家具有悠久历史与技术背景的业厂商,主要有测定/自动/流体三大部门。其中测定部门为具代表性单位且在日本精密测定业占有一席无法被取代的地位。
KOSAKA ET200A 基于 Windows 操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析，包括半导体硅片、太阳能基板、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层、平板显示、触摸屏等。使用金刚石（钻石）探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。ET200A 能**可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。
KOSAKA小坂粗糙度仪，粗度计，粗度仪EF800、SE800、3D
KOSAKA小坂粗糙度轮廓一体机 SEF580A、EF800. SEF580A-G18D
KOSAKA小坛轮廓仪 EF550A、EF800
KOSAKA小坂台阶仪，膜厚仪，薄膜测厚仪KOSAKA小坂圆度仪，真圆度仪，圆柱度仪
KOSAKA小坂测量仪配件
KOSAKA小坂非接触式表面形貌测量装置
KOSAKA小坂微细深孔测量装置ET200A 、ET4000 、ET8000 KOSAKA小坂晶圆检测装置
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KOSAKA小坂高精度贴片机SS-N21 SS-L SS-G41 SS-C SS-R SS-B
KOSAKA小坂传感器
非接触式测量允许在不损坏样品的情况下进行测量。 紧凑的光学布置可实现内径的表面纹理测量，这是现有非接触式探测器难以实现的。