“表面粗さ”と“輪郭形状”の2つの測定が可能です。タッチパネル採用で「測定条件の切り替え」等の操作性に優れ、多種多様なワークの測定に素早く対応できます。
设备特点： KOSAKA ET200A 基于 Windows 操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析，包括半导体硅片、太阳能基板、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层、平板显示、触摸屏等。使用金刚石（钻石）探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。ET200A 能**可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。 KOSAKA小坂粗糙度仪，粗度计，粗度仪 KOSAKA小坂粗糙度轮廓一体机 KOSAKA小坛轮廓仪 KOSAKA小坂台阶仪，膜厚仪，薄膜测厚仪KOSAKA小坂圆度仪，真圆度仪，圆柱度仪 KOSAKA小坂测量仪配件 KOSAKA小坂非接触式表面形貌测量装置 KOSAKA小坂微细深孔测量装置 KOSAKA小坂晶圆检测装置 KOSAKA小坂关节管测量仪 KOSAKA小坂探针卡检测设备 KOSAKA小坂高精度贴片机 KOSAKA小坂传感器