产品类目
所在位置: 首页 > 科学仪器 > Otsuka大塚
Otsuka大塚半导体涂胶显示行业
产品型号：胶片厚度显示器 FE-300F
产品品牌：Otsuka大塚
产品介绍：

Otsuka大塚集团成立于1921年，总部位于日本，目前在全球拥有超过150家子公司，员工总数超3万人，年销售额约770亿元人民币（2010年数据）。其业务范围包括医药、医疗器械、食品、电子设备等，并通过全球化布局覆盖多个市场。
详细介绍
特色Otsuka大塚
  • 集团成立于1921年，总部位于日本，目前在全球拥有超过150家子公司，员工总数超3万人，年销售额约770亿元人民币（2010年数据）。其业务范围包括医药、医疗器械、食品、电子设备等，并通过全球化布局覆盖多个市场。小巧、低成本且作简便的薄膜厚度测量
  • 通过选择光谱仪和光源，可选择胶片厚度范围
  • 条件设置和作测量简便。 任何人都能轻松测量
  • 配备实时监控和仿真功能
  • 其测量点直径为φ1.2毫米，可以测量
    从3nm~35μm到厚薄膜的广泛范围。

 

测量项目
  • **反射率测量
  • 薄膜厚度分析（10层）
  • 光学常数分析（n：折射率，k：衰减计数）

 

测量对象
  • 功能性薄膜、塑料
    透明导电薄膜（ITO、银纳米线）、相位对比薄膜、偏振薄膜、增强现实薄膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、粘合剂、粘合剂、保护薄膜、硬涂层、防指纹剂等。
  • 半导体
    化合物半导体、硅、氧化膜、氮化物薄膜、抗蚀剂、硅化镫、砷化镓、InP、镰铀、铀铀、铀铀、铀铵、硅晶、蓝宝石等。
  • 表面处理：
    DLC涂层、防锈剂、防雾剂等。
  • 光学材料：
    滤镜、AR涂层等。
  • FPD
    液晶显示器（CF、ITO、LC、PI）、OLED（有机膜、封装剂）等。
  • 其他的则是
    硬盘、磁带、建筑材料等。

 

雇主
测量波长范围 300~800纳米
测量胶片厚度范围
（SiO）2转换） 		3nm~35μm
斑点直径 φ1.2毫米
样本量 φ200×5（H）mm
测量时间 0.1~10秒以内
电源 AC100V±10% 300VA
尺寸，重量 280（W）×570（D）×350（H）mm、24kg

 

 

软件屏幕