X射线荧光涂层测厚仪EX-851的特点

有两种模式可供选择，
可根据应用进行平稳的测量作。

多测量和多校准曲线

注册坐标以
自动测量从激光点照射位置开始的多个点。 可以使用不同的校准曲线测量多个点。

膜厚测量期间的光谱显示

膜厚测量时的光谱显示 多通道光谱分析 快速处理，对被测物体进行简单的光谱显示（处理速度2~3秒）

显示测量单元监视器屏幕

将 X 射线照射部分导入 Windows 屏幕并显示 X 射线照射部分。 准直器
实现了改变尺寸的放大倍率变化功能。

自动测量模式

当测量对象设置在激光笔照射位置并关闭门时，载物台自动移动并
自动进行测量。

手动测量模式

测量对象设置在激光笔照射位置，当门关闭时，载物台自动移动，
甚至聚焦在它上面。

配备自动对焦功能

采用激光自动对焦。
自动对焦提高工作速度。

测量台移动精度 1μm

测量台移动的精度提高（是当前产品的50倍），通过坐标设置的
连续测量和移动到指定位置，实现了**的载物台移动。

双过滤器

除了气动过滤器外，使用机械过滤器（双过滤器）还可以让您在条件下进行测量，以确保始终保持精度。

完整的报告创建功能

通过采用MS-Window软件，可以轻松捕获测量屏幕，并增强报告创建功能。 多任务处理功能允许在测量时进行其他处理，包括报告。

5 个内置准直器

准直器的*小尺寸为 0.1 φ mm，可以测量极小的零件。 标准：0.1、0.2、0.5、1.0、2.0。
此外，还可以选择特殊规格。

自我诊断和 X 射线管维护功能

自诊断功能可立即响应设备故障排除。 此外，X射线管还增加了显示使用时间和耐久性时间的功能，以支持维护**。

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