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不便携式涂层测厚仪日本DENSOKU
产品型号:QNIx系列同基材组合
产品品牌:DENSOKU电测
产品介绍:

日本DENSOKU电测膜厚仪作为电解式测厚技术的代表产品。其核心优势在于高精度测量、多层镀层分析能力及工业场景适配性。采用±0.1%稳定性的高精度恒流源,支持四层镀层(含扩散层)逐层分析,分辨率达0.001μm(1nm)‌。

详细介绍



携式涂层测厚仪QNIx系列特点

无需薄膜校准即可准确测量薄膜厚度

出厂时随附 16 点校准数据。
这消除了繁琐的薄膜校准任务的需要,并确保了准确的薄膜厚度测量。


涂层厚度测量数据传输的新技术。

传统的测量仪器通过电缆将仪器本体和个人计算机连接起来,以传输测量数据。

 QNIx 系列使用“无线加密狗”,只需将其插入 USB 端口即可传输。 可以更快、更轻松地查看测量数据。


超轻量级无线测量仪

探头测量的数据以无线方式传输到主机。 它还降低了像传统产品一样被电缆卡住、

妨碍并导致坠落事故的风险。 探头也重 30 克,而且超轻,因此您无需随身携带沉重的仪器。


不易折断且在被测物体上不留痕迹的探头

QNIx 系列探头周围有增强塑料,耐用性提高了 30%。 万一发生故障,拆卸维修方便,缩短维修周期。

 它还配备了一个rubip,用于**测量,而不会损坏物体(样品)。





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