自1952年成立以来，DENSOKU通过广泛的薄膜厚度测量设备阵容，为日本表面处理行业做出了贡献，包括作为标准测量仪器的薄膜厚度计，这些测量仪器在通产省的JIS标准制定中作为标准测量仪器，并率先在行业中开发电解薄膜厚度计。我们的目标是建立一个能够为社会做出贡献的公司，并创造人类。我们不断努力提高自己的能力和人性，为员工创造幸福和公司发展。以更高的技术为目标，提供更上等的产品，为“客户满意度”服务。建立客户和业务合作伙伴信任的公司，并持续盈利。

DENSOKU/电测的产品分类：
1、多点同步测量涡流膜厚计
2、荧光X射线膜厚度计
3、电解膜厚度计
4、涡流膜厚度计
5、电阻式膜厚计
6、便携式薄膜厚度计

日本电测DENSOKU荧光X射线镀膜测厚仪EX-851多校准曲线
日本DENSOKU荧光涂层测厚仪EX-731自动测量台
日本电测DENSOKU荧光X射线式膜厚计COSMOS-3X
日本电测DENSOKU电解膜测厚仪 GCT-311全功能PC规范
DENSOKU电测进口电解膜测厚仪CT-6提高电流精度
日本电测仪器densoku电解式膜厚计/厚度仪/测量装置CT-3
DENSOKU电测涡流测厚仪DMC-211配备自动拍摄模式
日本DENSOKU电测涡流测厚仪高精度晶体振荡系统DS-110
电测DENSOKU电阻式涂层测厚仪0.7 秒内测量RST-231
电测DENSOKU便携式涂层测厚仪QNIx系列无需薄膜校准

产品特点

高精度测量：采用高精度恒流源，确保测量精度可达±1%，分辨率高达0.001μm。

多层镀层分析：支持*多5层镀层的测量条件设定，包括多层镍镀层的电位差分析。

智能化操作：在微软视窗下作业，数据处理及机能性更加多样。软件具有电位图显示功能，可设定上下限值，超差时红色警示并伴有蜂鸣报警。

数据处理与管理：可对测量数据进行统计处理，包括平均值、标准差等，并可导出或打印数据，方便用户进行质量控制和报告生成。

非破坏式校准：具备非破坏式校准功能，可制作标准板用于校准其他测厚仪，确保测量精度的长期稳定。

适应性强：适用于多种金属基材（如铜、铝、钢等）及镀层（如金、银、镍、铬等），并能自动识别适用的电解液类型。

应用场景

广泛应用于电镀、阳极氧化、表面处理等行业的质量控制及实验室分析。它适用于多种行业，如电子元器件、五金件与紧固件、汽车零部件、珠宝与装饰品等。

技术参数

测量范围：0.006~300μm

*小分解能：0.001μm

本体精度：±1%

测量单位：μm, mm, mil, MI

测量面积：

A型测头：3.4mmΦ

B型测头：2.5mmΦ

C型测头：1.8mmΦ

电源：AC100V

本体尺寸：W265×D215×H138mm

重量：4.5kg