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OOTSUKA大塚电子MCPD-6800多通道光谱仪美萨科技山东代理
产品型号:苏州半导体材料 FE-300F
产品品牌:Otsuka大塚
产品介绍:

Otsuka大塚集团成立于1921年,总部位于日本,目前在全球拥有超过150家子公司,员工总数超3万人,年销售额约770亿元人民币(2010年数据)。其业务范围包括医药、医疗器械、食品、电子设备等,并通过全球化布局覆盖多个市场。

详细介绍

OOTSUKA大塚电子MCPD-6800多通道光谱仪美萨科技山东代理


根据应用提供各种探测器阵容

从MCPD-9800开始,我们拥有3个波长范围内的12种探测器阵容,并提出*合适的探测器,以满足客户需求和测量应用。

评估方法及相应的检测器

 

通信接口支持 USB 和局域网

它配备了通用USB端口和LAN通信,可以支持从远程位置进行远程测量,从而扩展了便利性和广泛的测量应用。

 

高速、高灵敏度的光谱测量

使用512通道或1024ch检测元件和探测器主体的内部存储器,可以每5毫秒(MCPD-9800)以高灵敏度和精度测量不断变化的紫外,可见光和近红外发射光谱。

 

带光纤的自由光学系统

标准光纤允许您自由组装光学器件,而不受样品形状或尺寸的限制。 它还可以轻松地与显微镜和大型载物台等其他仪器结合使用,在所有领域提供出色的性能。

 

薄膜厚度测量系统
薄膜厚度测量系统 用途 ◎薄膜、涂膜、保护膜的膜厚 ◎晶圆、玻璃基板、铝基板上的膜


 

显微光谱系统
显微光谱系统 应用 ◎ 显微镜下微小斑点的测量(反射、透射、吸收) ◎ 薄膜厚度测量

(薄膜、各种基材上的薄膜、保护膜)

 

多点测量系统
多点测量系统 应用 ◎ 减反射膜的反射率测量 ◎ 涂膜的膜厚测量 ◎ 各种基材上的膜


厚测量

 

横移机兼容系统
横移机兼容系统 应用 ◎ 减反射膜的膜厚和反射率测量 ◎ 功能性膜

的质量控制