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Otsuka大塚 多样品nano粒子径测量系统
产品型号:MCPD-6800多通道光谱仪山东代理
产品品牌:Otsuka大塚
产品介绍:

Otsuka大塚ZETA电位·粒径·分子量·ELSZ-2000ZS集团成立于1921年,总部位于日本,MINUK可评价nm级的透明的异物・缺陷,一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息,可非破坏・非接触・非侵入的进行测量。且无需对焦,可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置。

详细介绍

OTSUKA大塚电子MCPD-6800多通道光谱仪塔玛安徽代理

OTSUKA大塚电子MCPD-6800多通道光谱仪塔玛山东代理


根据应用提供各种探测器阵容

从MCPD-9800开始,我们拥有3个波长范围内的12种探测器阵容,并提出*合适的探测器,以满足客户需求和测量应用。

评估方法及相应的检测器

 

通信接口支持 USB 和局域网

它配备了通用USB端口和LAN通信,可以支持从远程位置进行远程测量,从而扩展了便利性和广泛的测量应用。

 

高速、高灵敏度的光谱测量

使用512通道或1024ch检测元件和探测器主体的内部存储器,可以每5毫秒(MCPD-9800)以高灵敏度和精度测量不断变化的紫外,可见光和近红外发射光谱。

 

带光纤的自由光学系统

标准光纤允许您自由组装光学器件,而不受样品形状或尺寸的限制。 它还可以轻松地与显微镜和大型载物台等其他仪器结合使用,在所有领域提供出色的性能。

 

薄膜厚度测量系统
薄膜厚度测量系统 用途 ◎薄膜、涂膜、保护膜的膜厚 ◎晶圆、玻璃基板、铝基板上的膜


 

显微光谱系统
显微光谱系统 应用 ◎ 显微镜下微小斑点的测量(反射、透射、吸收) ◎ 薄膜厚度测量

(薄膜、各种基材上的薄膜、保护膜)

 

多点测量系统
多点测量系统 应用 ◎ 减反射膜的反射率测量 ◎ 涂膜的膜厚测量 ◎ 各种基材上的膜


厚测量

 

横移机兼容系统
横移机兼容系统 应用 ◎ 减反射膜的膜厚和反射率测量 ◎ 功能性膜

的质量控制


代理品牌:OTSUKA大塚电子(薄膜测厚仪、偏光片检测、纳米粒度分析仪、ZATA电位仪、相位差膜·光学材料检查设备、液晶层间隙量测设备等)、SANKO三高、NPM日脉、东机产业(粘度计)、CCS(视检查光源)、Aitec(视检查光源)、REVOX莱宝克斯(视检查光源)、EYE岩崎(UV汞灯)、SEN 日森、SERIC索莱克、各类日本光源 索尼克(风速计、流量计等)、坂口电热(加热器、制冷片)、NEWKON新光(针孔机)、NS精密科学(柱塞泵、高压耐腐蚀防爆泵)   、SIBATA柴田科学、SAKURAI樱井

优势品牌:AND艾安得、TOA-DKK东亚电波、JIKCO吉高、RKC理化工业、KYOWA共和、IIJIMA饭岛电子、HORIBA堀场、EXCEL艾库斯、HEIDON新东科学、USHIO牛尾、TOPCON拓普康、ORC欧阿西、SEKONIC日本世光、Tokyokoden东京光电、DSK电通、SAGADEN嵯峨电机、FUNATECH船越龙、HIKARIYA光屋、POLARION普拉瑞、HAYASHI林时计、MACOME码控美、TML东京测器等等各日本品牌工业产品