HITACHI日立EA1000AIII和EA1400 XRF分析仪专为RoHS（有害物质限制）设计，15年来一直受到信任，为需要遵守本指令的企业提供一致的结果。通过对有害物质的简单快速的测量，您可以确保能够满足环境法规的要求。在专用RoHS分析的EA1000系列和RoHS、镀层和元素分析的EA6000范围之间进行选择。

在固体分析分光光度计专家U-4100的基础上实现了进一步的技术提高, UH4150问世！

UH4150是积分球分光光度计产品专家，*适合半导体、光学元件、新型材料的光谱性能研究，是功能劲的分光光度系统。UH4150是*适合固体、液体和浑浊样品测试的高性能系统。

产品特点

（1）可提供适合不同测定目的的多种检测器。

可使用八种不同材料、尺寸和形状的积分球。

（2）采用全新人体工学设计。

改进样品室门，提升操作性。为了便于更换样品和附件的操作，采用了符合人体工学的设计。

（3）兼容多种U-4100附件。

通用附件适用于两种型号。U-4100型附件也可用在UH4150型由于附件可拆卸，适合更多的测定类型

（4）比U-4100型更高的样品通量。

UH4150型可在1,200 nm/min的扫描速度下以1 nm的间隔进行测定，***缩短测定时间。

应用领域：

液体、浑浊液体、固体均可适用。可实现包括粉末、玻璃、光学薄膜、胶片材料、透镜、棱镜、单晶片、液体电路板等各种光学、电子设备材料的吸收透过率反射率的无损测试。广泛应用于半导体、光学元件、光电设备、新型材料的光谱性能研究，获取样品的吸收、全透射、正透射、漫透射、全反射、正反射、漫反射等光谱数据。

产品优势（1）切换检测器波长时会产生小的信号差异,即使这样UH4150也可实现高精度的测定。

由于使用日立专业的积分球结构技术和信号处理技术等，将检测器切换时（信号水平的差异）吸光度值的变化降到zui小。

（2）日立高性能的棱镜-光栅双单色器系统可实现低杂散光和低偏振。

棱镜-光栅（P-G）系统与常见的光栅-光栅（G-G）系统相比,S和P偏振光强度没有大的改变。即使对于低透过率和反射率的样品，UH4150也可实现低噪音测定。

（3）平行光束可实现反射光和散射光的***测定。

平行光束，相对于样品入射角始终相同，实现了高精度镜面反射率的测定。此外，平行光束可用于扩散率（雾度）的评价和透镜透过率的测定。