OTSUKA大塚电子nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法（DLS法）测量粒径的（粒径0.6nm~10um）的装置。 

支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学系统，实现了实验室必需的轻量、小型化、标准1分钟的高速测定。

另外，这是一款非浸泡型、不受接触器影响、无需自动取样器、标准配备“5检体连续测量”的新产品。

特长
1台便可实再5个样品的连续测量
实现了在没有自动取样器的情况下难以连续测量的多个样品
可以改变每个样品的条件进行测量
可以对应从稀薄到浓厚的样品
准测量时间1分的高度测量
自动调整从浓厚系到稀薄系样品的*佳测量位置，实现约1分钟的高速测量
配备简单测量功能(点击一键即可开始测量)
没有任何复杂的操作，简单易懂的软件
因为每个样品槽都是独立的，所以不用担心接触污染。
搭载温度梯度功能
测量范围（理论值）
粒径0.6nm～10μm
浓度范围 0.00001～40％
温度范围0～90℃*
型号多检体纳米粒径测量系统
測量原理
动态光散射法（光子相关法）
光源
高功率半导体激光（660nm、70mW） *1
检出器高感度APD连续测量
*多5个样品
测量范围 0.6nm ～ 10μm
浓度范围 0.00001 ～ 40% *2
温度范围0 ～ 90℃ （具备温度梯度功能） *3
样品容量四面透光比色皿：1.2mL～、微量比色皿：20μL～
尺寸W240 X D480 X H375 mm
电压220V 50/60Hz、250VA
重量约18 kg
软件
平均粒径解析（累积法解析）
粒径分布解析
（Marquardt法/Contin法/NNLS/Unimodal法）
粒度分布重叠
逆相关数 残差Plot
粒径监测
粒径表示范围 （0.1 ～ 106 nm）
分子计算机能
21 CFR Part11对应*4选配
微量样品池（20μLから対応）、荧光滤光片
*1 本设备划分在激光**基准（JIS C 6802）的等级内。
*2 Latex120nm：0.00001 ～ 10％、牛黄胆酸：～40%
*3 标准glass cell的批量测量的情况。
一次性cell或连续测量时， 15 ～ 40℃ （不对应温度梯度）