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OTSUKA大塚电子显微分光膜厚仪
产品型号：杭州分光椭圆偏振仪FE-5000 系列
产品品牌：Otsuka大塚
产品介绍：

Otsuka大塚集团成立于1921年，总部位于日本，目前在全球拥有超过150家子公司，员工总数超3万人，年销售额约770亿元人民币（2010年数据）。其业务范围包括医药、医疗器械、食品、电子设备等，并通过全球化布局覆盖多个市场。
详细介绍

日本大塚电子（Otsuka）核心常卖型号，按应用场景整理如下（覆盖膜厚、光谱、粒径 / 电位、光学检测四大类）：

一、薄膜测厚仪（半导体 / 面板主力）

  • OPTM-A2：显微分光膜厚仪，桌面式，1nm 级薄膜、*小 3μm 光斑，研发 / 量产通用



  • SF-3/200 系列：分光干涉式晶圆膜厚仪，型号含SF-3/200、SF-3/300、SF-3/800、SF-3/1300，10ms 高速面分布，半导体产线常用。
  • Smart：便携式膜厚计，轻巧便携，现场 / 快速抽检。

    • 二、分光光谱仪（光学特性评价）

    • MCPD 系列：多通道光谱仪，含MCPD-9800、MCPD-6800，高速高精度，显示器 / 光源 / 膜厚测量标配
    • 2285C/3095C/3683C：紫外 / 可见 / 近红外分光光谱仪，覆盖 220–1600nm，色度 / 辉度 / 照度分析。

    三、纳米粒径与电位分析仪（材料 / 化工 / 医药）

    • ELSZneo：zeta 电位・粒径・分子量一体机，稀 / 浓溶液兼容，胶体 / 粉体 / 高分子常用。
    • nanoSAQLA：多样品纳米粒径仪，配 AS50 自动进样器，高通量 5 连测，零污染。
    • DLS-6500/8000 系列：动态光散射光度计，高浓度 / 小粒径（1nm–10μm）精准测量。

    四、光学检测与特性系统

    • RETS-100nx：相位差测量装置，液晶 / 偏光膜 / 光学元件相位差检测。
    FE-5000 系列：分光椭圆偏振仪，超薄膜（Å 级）光学常数（n/k）解析，半导体 / 光学涂层**应用QE-2100/QE-5000：量子效率测量系统，LED/OLED/ 光伏器件 EQE/IQE 评价