日本大冢电子 Otsuka RETS‑100nx（相位差 / 延迟测量系统）

定位：OLED / 液晶 / 光学薄膜专用高精度相位差（Retardation）测量仪，可测超高 Re 达60,000 nm，无损测量多层膜。

一、核心特点

• 超宽测量范围：相位差 0～60,000 nm，覆盖普通至超高延迟膜。
• 无损多层测量：层压膜 / 偏光板无需剥离，直接测层压状态。
• 高精度多波长：400～800 nm 全光谱同步测量，自动算色散曲线。
• 轴角度校正（可选）：样品重放偏差自动补偿，重复性 3σ≤0.08°。
• 三维折射率（可选）：配倾斜旋转台可测 Rth / 三维折射率。

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二、测量项目

• 薄膜 / 光学材料：相位差（Re，波长色散）、慢轴、Rth、三维折射率。
• 偏光板：吸收轴、偏光度、消光比、色度、透射率。
• 液晶盒：盒间隙（0～600 μm）、预倾角、扭曲角、取向角。

2. 
   
3. OLED/LCD 偏光板、延迟膜、增亮膜（BEF）
4. 光学薄膜（PET/PC/COP）相位差与色散评估
5. 液晶面板盒间隙、预倾角、取向角测量
6. 车载 / 光学元件高精度延迟与轴角度检测