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日本大塚电子 Otsuka RETS‑100nx
产品型号:Otsuka CR-7000 系列(相位差 / 延迟测量系统)
产品品牌:Otsuka大塚
产品介绍:

日本大冢电子 Otsuka RETS‑100nx(相位差 / 延迟测量系统) 定位:OLED / 液晶 / 光学薄膜专用高精度相位差(Retardation)测量仪,可测超高 Re 达60,000 nm,无损测量多层膜。

详细介绍

日本大塚电子 Otsuka RETS‑100nx(相位差 / 延迟测量系统)

Otsuka CR‑7000 系列(彩色滤光片 RGB 正胶)

用途:LCD/OLED 彩色滤光片(CF)红 / 绿 / 蓝三色像素层,面板厂主力型号
类型正型彩色光刻胶(Positive Tone)
光源:G 线(436 nm)/i 线(365 nm)
膜厚:标准 1.5–2.5 μm(可按转速调整)
状态已停产(EOL),市面只有库存 / 二手;原厂替代为 CR‑8000 系列

一、型号对应(CR‑7000)

  • CR‑7010:Red 红色(CF 红像素)
  • CR‑7020:Green 绿色(CF 绿像素,用量*大)
  • CR‑7030:Blue 蓝色(CF 蓝像素)

二、核心参数(每色通用,典型值)

  • 固含量:22–25 wt%
  • 粘度(25℃):18–22 cP
  • 溶剂体系:PGMEA(主流)+ 少量高沸点助剂
  • 感光波长436 nm(G 线)主感光,365 nm(i 线)可用
  • 灵敏度80–120 mJ/cm²(G 线,实机)
  • 对比度:≥2.5
  • 显影液0.05–0.1 N TMAH(氢氧化四甲铵)
  • 耐热性:≥230℃(后烘 1h,无明显变色)
  • 粘附性:玻璃 / ITO / 氮化硅良好
  • 颗粒:≤0.5 μm 颗粒<5 个 /mL(电子级)

三、标准工艺条件(Spin → Bake → Exposure → Develop → Post Bake)

  1. 涂胶(Spin Coating)
    • 转速:3000–5000 rpm → 膜厚 1.5–2.5 μm
    • 环境:洁净室 Class 1000,温度 23±1℃,湿度 45±5%
  2. 前烘(Soft Bake)
    • 温度:95–105℃
    • 时间:60–90 s(热板)
    • 目的:去溶剂、提升附着力
  3. 曝光(Exposure)
    • 光源:G 线(436 nm)光刻机
    • 能量:100–150 mJ/cm²(实际依机台微调)
    • 光罩:CF 彩色像素掩膜
  4. 显影(Development)
    • 液:0.05–0.1 N TMAH
    • 方式:喷淋 /puddle
    • 时间:40–60 s
    • 冲洗:DIW 30 s → 吹干
  5. 后烘(Post Bake)
    • 温度:200–220℃
    • 时间:30–60 min
    • 目的:固化、提升耐热 / 耐化性

四、CR‑7000 与 CR‑8000 差异(为什么 7000 停了)

  • CR‑7000(老款):2000s 设计,高泄漏、低耐热、分辨率 5 μm,现已 EOL
  • CR‑8000(替代):低泄漏、高耐热(≥250℃)、分辨率 3 μm,适配高分辨率屏