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Otsuka大塚
日本大塚电子 Otsuka RETS‑100nx
产品型号:Otsuka CR-7000 系列(相位差 / 延迟测量系统)
产品品牌:Otsuka大塚
产品介绍:
日本大冢电子 Otsuka RETS‑100nx(相位差 / 延迟测量系统) 定位:OLED / 液晶 / 光学薄膜专用高精度相位差(Retardation)测量仪,可测超高 Re 达60,000 nm,无损测量多层膜。
详细介绍
日本大塚电子 Otsuka RETS‑100nx(相位差 / 延迟测量系统)
Otsuka CR‑7000 系列(彩色滤光片 RGB 正胶)
用途
:LCD/OLED 彩色滤光片(CF)红 / 绿 / 蓝三色像素层,
面板厂主力型号
类型
:
正型彩色光刻胶(Positive Tone)
光源
:G 线(436 nm)/i 线(365 nm)
膜厚
:标准
1.5–2.5 μm
(可按转速调整)
状态
:
已停产(EOL)
,市面只有库存 / 二手;原厂替代为
CR‑8000 系列
一、型号对应(CR‑7000)
CR‑7010
:Red 红色(CF 红像素)
CR‑7020
:Green 绿色(CF 绿像素,用量*大)
CR‑7030
:Blue 蓝色(CF 蓝像素)
二、核心参数(每色通用,典型值)
固含量
:22–25 wt%
粘度(25℃)
:18–22 cP
溶剂体系
:PGMEA(主流)+ 少量高沸点助剂
感光波长
:
436 nm(G 线)主感光,365 nm(i 线)可用
灵敏度
:
80–120 mJ/cm²
(G 线,实机)
对比度
:≥2.5
显影液
:
0.05–0.1 N TMAH(氢氧化四甲铵)
耐热性
:≥230℃(后烘 1h,无明显变色)
粘附性
:玻璃 / ITO / 氮化硅良好
颗粒
:≤0.5 μm 颗粒<5 个 /mL(电子级)
三、标准工艺条件(Spin → Bake → Exposure → Develop → Post Bake)
涂胶(Spin Coating)
转速:3000–5000 rpm → 膜厚
1.5–2.5 μm
环境:洁净室 Class 1000,温度 23±1℃,湿度 45±5%
前烘(Soft Bake)
温度:
95–105℃
时间:60–90 s(热板)
目的:去溶剂、提升附着力
曝光(Exposure)
光源:G 线(436 nm)光刻机
能量:
100–150 mJ/cm²
(实际依机台微调)
光罩:CF 彩色像素掩膜
显影(Development)
液:
0.05–0.1 N TMAH
方式:喷淋 /puddle
时间:40–60 s
冲洗:DIW 30 s → 吹干
后烘(Post Bake)
温度:
200–220℃
时间:30–60 min
目的:固化、提升耐热 / 耐化性
四、CR‑7000 与 CR‑8000 差异(为什么 7000 停了)
CR‑7000(老款)
:2000s 设计,
高泄漏、低耐热、分辨率 5 μm
,现已 EOL
CR‑8000(替代)
:低泄漏、高耐热(≥250℃)、分辨率
3 μm
,适配高分辨率屏
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