SURUGA SEIKI自动舞蹈 双轴电动测角仪
SURUGA SEIKI自动舞蹈 双轴电动测角仪
一、产品系列定位
KAW06 是骏河精机60×60mm 台面量产标准蜗轮蜗杆双轴测角台,一体式俯仰 + 偏摆共旋转中心,采用钢蜗杆 + 磷青铜蜗轮自锁传动,为通用工业光学、半导体检测主力型号;对比微型 KAW04、滚珠丝杠 KAB06,优势为大台面、高负载、断电自锁、多档旋转中心高度可选,长期静置测试角度无漂移,新项目常备现货,替代已停产 KAB 滚珠丝杠系列优选。
完整型号命名规则(标准型号示例:KAW06050M-LC)
KAW:蜗轮蜗杆一体式双轴电动测角仪系列
06:60×60mm 台面规格代号
050/075/100:旋转中心高度 50/75/100mm 三档
M:标准 5 相步进电机;M-G 高分辨率 5 相电机
L/R:电机安装左侧 L / 右侧 R
A/B/C/D/G/H:线缆规格(2m 裸线 / 2m 连接器 / 4m 连接器 / 机器人耐弯折线)
V 后缀:KAW06V 手动双轴测角台,无驱动电机,实验室人工微调专用
二、核心结构与产品优势
蜗轮蜗杆机械自锁,断电保角度
蜗杆高碳钢、蜗轮磷青铜发黑处理,咬合背隙≤0.01°;停机断电无需电机持续励磁,样品姿态长期稳定,适配间断自动化、长时间静态光路观测,弥补滚珠丝杠 KAB 系列断电漂移缺陷。
双轴全交叉滚柱导轨,高刚性低跳动
俯仰、偏摆两轴独立交叉滚柱导向,抗倾覆力矩强;回转中心径向跳动≤0.01mm,4.5kg 满载无明显形变,可堆叠 XYZ 线性滑台搭建六维精密调整平台。
一体式同轴双轴,消除拼接误差
俯仰、偏摆共用同一旋转中心,双维度调角光路无偏心偏移;相比两台单轴 KGW06 堆叠,整机体积更小、出厂同轴精度更高、现场调试工作量大幅减少。
60mm 大台面 + 4.5kg 高承载
台面密布 M3 标准沉头安装孔,可放置 6 寸晶圆、大口径分光镜、工业检测镜头、定制真空吸附治具;额定负载 4.5kgf,远超 KAW04(2.5kgf),适配中等尺寸光学元件。
三档旋转中心高度,全光路覆盖
50mm(低矮紧凑型设备)、75mm(通用标准光路)、100mm(立式长焦距 / 椭偏仪高光路),一台系列兼容高低各类光学设备,选型灵活。
双轴独立限位 + 原点光电传感
每轴配置左右硬件限位 + 中心原点感应,DC5~24V 通用信号,电路板带防反接、过流保护,支持自动回零、PLC 联动循环测试,降低设备故障率。
丰富电机、线缆完整选配矩阵
标准步进、高分辨步进、αStep 增量 / **值编码电机、EtherCAT 总线伺服、三菱 / 松下交流伺服全覆盖;多长度连接器、裸线、耐弯折机器人线缆可选,适配流水线长期往复运动。
黑色硬质阳极氧化铝机身
轻量化一体铸铝,防锈耐磨,整机约 1.4kg,设备内部安装兼容性强,符合 RoHS 环保标准。
三、三档主流型号核心技术参数
1)KAW06050(中心高 50mm,通用标准款,出货量*大)
| 参数项目 | 标准规格 |
|---|
| 载物台面 | 60×60 mm |
| 上轴(俯仰)行程 | ±10° |
| 下轴(偏摆)行程 | ±8° |
| 额定负载 | 4.5 kgf(44.1 N) |
| 驱动机构 | 钢蜗杆 + 磷青铜蜗轮蜗杆 |
| 导向机构 | 交叉滚柱导轨 |
| 旋转中心高度 | 50±0.4 mm |
| 台面基准高度 | 50±0.4 mm |
| 重复定位精度 | ≤±0.005° |
| 空程背隙 | ≤0.01 ° |
| *大移动速度 | 上轴 30 °/s;下轴 24 °/s |
| 整机自重 | 约 1.4 kg |
| 台面安装螺纹 | M3 沉头孔 |
| 标配电机 | 5 相 0.72° 步进电机 |
| 传感器 | 双轴独立限位 + 原点光电 |
| 材质 | 航空铝黑色阳极氧化 |
2)KAW06075(中心高 75mm,中光路通用)
3)KAW06100(中心高 100mm,超高光路专用)
四、电机、线缆与配套控制器选配
1. 电机选型
M:标准 5 相增量步进(常规光学对位,性价比标配)
M-G:高分辨率 5 相步进,低速细分精度更高,适合光谱低速角度扫描
AR:αStep 增量编码电机,运行震动低、定位平稳
AZ:αStep **值编码,上电无需回零,自动化流水线优选
定制:EtherCAT 总线步进 / 伺服、三菱 J4、松下 A6 交流伺服(高速产线)
2. 线缆代码区分
3. 适配控制器
DS112(双轴专用控制器,推荐搭配)、DS102 单轴控制器、DS2000A 多轴联动控制器,支持双轴同步点位、角度循环扫描、多程序存储。
4. 手动款 KAW06V
取消驱动电机,双轴独立刻度微调旋钮,主刻度 1°、游标分度 0.1°,仅实验室人工调试场景,大幅降低设备成本。
五、典型应用场景
通用光学精密检测
椭偏仪薄膜测厚、干涉仪光路双维度对准、光谱多角度扫描、棱镜 / 分光镜倾角校正、光纤激光耦合对位。
半导体晶圆检测
6 寸 Wafer 外观缺陷检测、SiC 碳化硅器件光学耦合、芯片模组双角度姿态补偿、光学封装耦合工位。
工业机器视觉设备
3D 激光轮廓扫描、屏幕模组外观检测、大尺寸元器件双角度视觉成像校正。
高校科研实验室
光电材料反射 / 透射多角度变量实验、偏振光学平台、显微系统双轴倾角调节。