HAMAMATSU滨松 分光型硅光电二极管
HAMAMATSU滨松 分光型硅光电二极管
一、产品概述
品牌：HAMAMATSU 日本滨松光子
产品名称：分光型硅 PIN 光电二极管（光谱选择型 Si Photodiode）
核心定义：芯片内置光学截止滤光层，精准裁剪光谱响应，自动抑制红外、只保留紫外 / 可见光波段；分为
红外截止分光型、人眼视觉匹配分光型、单色窄带分光型、RGB 分色型四大类，无需外加滤光片即可完成分光检测，是分光光度计、色度仪、紫外监测的核心器件。
核心原理
在光电二极管芯片表面集成干涉滤光膜，对近红外（＞1000nm）实施深度截止，限定有效探测波段；部分型号严格匹配 CIE 人眼视见函数，实现可见光分光测量，杜绝红外杂光干扰，大幅简化光路结构。
基础工作模式
零偏光伏模式：弱光光度测量，暗电流极低
反向偏压模式：提升响应速度，适合连续光谱采集
窗口区分
二、四大完整系列 + 全部标准型号
系列 1：红外截止分光型（主力款，紫外 - 可见光专用，抑制近红外）
S1227 全系列（低暗电流，分光测量优选）
| 型号 | 感光面 | 窗口 | 光谱范围 | 封装 |
|---|
| S1227-33BR | 2.4×2.4 mm | 玻璃 | 340～1000 nm | 陶瓷气密 |
| S1227-33BQ | 2.4×2.4 mm | 石英 | 190～1000 nm | 陶瓷气密 |
| S1227-16BR | 1.1×5.9 mm | 玻璃 | 340～1000 nm | 陶瓷气密 |
| S1227-1010BQ | 10×10 mm | 石英 | 190～1000 nm | 大面陶瓷封装 |
S1226-BQ / S1337-BR 小型分光款
S5870 UV 紫外分光监测专用
光谱严格限定紫外波段，自动屏蔽可见光与红外，用于 UV 强度监测、臭氧检测。
系列 2：CIE 人眼视觉分光匹配型（光度分光，照度计专用）
光谱响应严格贴合人眼可见光曲线（380~780nm），自动滤除紫外与红外，属于精密分光光度器件。
S7686（新一代高精度分光型号）
感光面：2.4×2.8mm；波段：380~780nm；内置分光滤光层，CIE 匹配误差＜8%；陶瓷封装，照度计、亮度计标配。
S1133（经典可见光分光 PD）
型号：S1133、S1133-01
波段：340~780nm，抑制红外杂光，用于背光白平衡、可见光分光测试。
S5867：经济型可见光分光型号，塑料封装，量产仪器使用。
系列 3：单色窄带分光型（单色光检测，单波长分光）
内置窄带分光膜，只响应单一色光，实现 RGB 分色检测：
绿光专用：S6429-01，峰值 540nm，仅接收绿光，红外截止
蓝光 / 红光单色分光 PD：S6428、S6430 系列
RGB 三色一体化分光传感器：S9068，三路独立分光通道，颜色检测专用。
系列 4：多通道分色阵列型（多波长并行分光）
S4111-Q 阵列（石英窗口红外截止）：16/35 通道线性分光阵列，多波长光谱并行采集，分光光度计核心元件。
二元 / 四象限分光 PD：S4204、S4349，双通道分光对比检测，用于光束分光比对测量。
三、关键电气参数（以主力型号 S1227-33BQ 为例）
| 项目 | 典型参数 |
|---|
| 分光波段 | 190 nm ~ 1000 nm（＞1000nm 近红外截止） |
| 峰值波长 | 720 nm |
| 响应度 | 0.36~0.43 A/W |
| 暗电流 | ≤5 pA（极低噪声，弱光分光无基线漂移） |
| *大反向电压 | 5 V |
| 上升时间 | 0.5 μs |
| 结电容 | 300 pF |
| 封装 | 陶瓷气密封装，侧面遮光，杜绝杂散光干扰 |
| 工作温度 | -20℃ ~ +75℃ |
核心产品特点
内置分光滤光结构，无需外加光学滤片
芯片集成截止膜，自动屏蔽近红外杂散光，简化分光光路，保证光谱纯度，避免外接滤光片带来的光损耗。
极低暗电流，适合微量光谱分光检测
暗电流低至 5pA 级别，在紫外分光、液相色谱多波长检测中基线平稳。
双窗口可选，覆盖深紫外分光
BQ 石英款直达 190nm 深紫外，适配紫外分光光度计；BR 玻璃款性价比更高，用于可见光分光测量。
光谱一致性高
同批次器件分光曲线离散度＜3%，多通道分光比对测量数据稳定。
遮光陶瓷封装
侧面不透光，杜绝侧面杂光入射，保证分光测量精度。
线性度优异
光电流与光强保持严格线性，宽动态范围适配强弱谱线同时采集。
四、行业应用与分光工艺场景
1. 分析仪器（*大应用场景）
2. 光度色度测量
3. 工业光学检测
单色激光分光接收、多色光源分色检测；
薄膜透过率 / 反射率分光测试。
4. 多通道并行光谱采集
选用 S4111-16Q 线性分光阵列，一次完成多条谱线分光测量。