Otsuka大塚紫外分光辐射照度测量系统 New产品信息 特征 该检测器 是一种高性...

Otsuka大塚 该检测器 是一种高性能的分光光度计 ，在光源测量、反射/透射测...

总光谱光通量测量系统 HM/FM series 产品信息 特点 可处理高达2400mm的直管...

产品信息 特殊长度 可以测量0.01%或更低的单线态氧的产生量子产率。 单线态...

特点： 采用具有高亮度和色度精度的光谱方法（衍射光栅）， 0.005cd / m 2的...

产品信息 特 点 与产线的控制信号同步 通过光纤的自由的测试系统 实现*短2m...

产品信息 特征 通过分光光度分布对紫外光进行高精度测量 从配光上评估紫外光...

产品信息 特征 具有高灵敏度检测器的宽测量范围 具有紫外线自吸收校正的高精...

产品信息 特 点 可测从0nm开始的低（残留）相位差 光轴检出同时可高速测量相...

PP-1000小角激光散射仪，利用小角激光散射法（Small Angle Laser Scatterin...

产品信息 特点 可在紫外和可见（250至800nm）波长区域中测量椭圆参数 可分析...

● nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法（DLS法）测量粒径（粒径0.6nm~10um）的...

产品信息 特 点 采用了偏光光学系和多通道分光检出器 有可对应各种尺寸的装...

产品信息 特点 以透过光谱测量、色测量为代表，通过浓度测量、膜厚测量、反...

产品信息 特点 使用了*新型高感度APD，感度提升及缩短测量时间 通过测量自动...

产品信息 特 点 测量精度高 可瞬间测量**量子效率（**量子收率） 可去除再激...

可携带至现场的手持式可测量0.1μm单位，具有形状的样品也可非破坏的测量，...

采用线扫描方式检测整面薄膜 硬件软件均为**设计 作为专业膜厚测定厂商，提...

产品信息 特点 **高速高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测 硬件软件均为*...

产品信息 特 点 采用分光干涉法 搭载高精度FFT膜厚解析系统（** 第4834847号...