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Otsuka大塚线扫描膜厚仪
产品型号:离线型
产品品牌:Otsuka大塚
产品介绍:

产品信息 特点 **高速高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测 硬件软件均为**设计 作为专业膜厚测定厂商,提供多种支援 实现高精度测量 实现高速测量

详细介绍
线扫描膜厚仪【离线型】

产品信息 特点 **高速高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测 硬件软件均为**设计 作为专业膜厚测定厂商,提供多种支援 实现高精度测量 实现高速测量



产品信息

  特点

● **高速高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测

● 硬件&软件均为**设计

● 作为专业膜厚测定厂商,提供多种支援

● 实现高精度测量(已取得**)

● 实现高速测量(500万点以上/分)



产品规格