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Otsuka大塚电子晶圆膜厚仪
Otsuka大塚电子的晶圆膜厚仪采用分光干涉法进行非接触、无损测量,适用于硅...
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Otsuka大塚电子晶圆膜厚仪
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Otsuka大塚电子晶圆
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Otsuka大塚电子晶圆膜厚仪
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Otsuka大塚电子晶圆膜厚仪
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Otsuka大塚电子进口显微分光膜厚仪
Otsuka大塚电子进口显微分光膜厚仪 OPTM-A1A2A3替代椭偏仪
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Otsuka大塚电子薄膜膜厚仪
Otsuka大塚 该检测器 是一种高性能的分光光度计 ,在光源测量、反射/透射测...
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Otsuka大塚紫外分光辐射照度测量系统 New
Otsuka大塚紫外分光辐射照度测量系统 New产品信息 特征 该检测器 是一种高性...
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Otsuka大塚紫外分光辐射照度测量系统 New
Otsuka大塚 该检测器 是一种高性能的分光光度计 ,在光源测量、反射/透射测...
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Otsuka大塚总光谱光通量测量系统 HM/FM series
总光谱光通量测量系统 HM/FM series 产品信息 特点 可处理高达2400mm的直管...
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Otsuka大塚红外量子效率测量系统
产品信息 特殊长度 可以测量0.01%或更低的单线态氧的产生量子产率。 单线态...
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Otsuka大塚高感度分光辐射亮度计
特点: 采用具有高亮度和色度精度的光谱方法(衍射光栅), 0.005cd / m 2的...
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Otsuka大塚高速LED光学特性仪
产品信息 特 点 与产线的控制信号同步 通过光纤的自由的测试系统 实现*短2m...
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Otsuka大塚紫外分光配光测量系统
产品信息 特征 通过分光光度分布对紫外光进行高精度测量 从配光上评估紫外光...
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Otsuka大塚紫外分光全光谱光测量系统
产品信息 特征 具有高灵敏度检测器的宽测量范围 具有紫外线自吸收校正的高精...
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