采用线扫描方式检测整面薄膜 硬件软件均为**设计 作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援 实现高精度测量（已获取**） 实现高速测量 不受偏差影响 

产品信息

特点

● 采用线扫描方式检测整面薄膜

● 硬件&软件均为**设计

● 作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援

● 实现高精度测量（已获取**）

● 实现高速测量

● 不受偏差影响

● 可对应宽幅样品（TD方向*大可测量10m）
规格