● 可携带至现场的手持式
● 可测量0.1μm单位
● 具有形状的样品也可非破坏的测量
● 不论基材材质、可测量其镀膜

产品信息

特点

● 可携带至现场的手持式

● 可测量0.1μm单位

● 具有形状的样品也可非破坏的测量

● 不论基材材质、可测量其镀膜

测量项目

选配
笔型探头

能够测量狭窄区域或形状的样品。 探头**Φ6mm。

非接触式载台

对于湿膜或半导体晶圆等不想接触的样品，可以通过自由设定探头位置进行非接触测量。