● nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法（DLS法）测量粒径（粒径0.6nm~10um）的装置。支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学系统，实现了实验室必需的轻量、小型化、标准1分钟的高速测定。 另外，这是一款非浸泡型、不受接触器影响、无需自动取样器、标准配备“5检体连续测量”的新产品。
产品信息
特长
● 1台便可实再5个样品的连续测量
实现了在没有自动取样器的情况下难以连续测量的多个样品
可以改变每个样品的条件进行测量
● 可以对应从稀薄到浓厚的样品
● 标准测量时间1分的高度测量
自动调整从浓厚系到稀薄系样品的*佳测量位置，实现约1分钟的高速测量
● 配备简单测量功能(点击一键即可开始测量)
没有任何复杂的操作，简单易懂的软件
● 因为每个样品槽都是独立的，没有接触污染的风险。
● 搭载温度梯度功能
测量范围（理论值）
● 粒径0.6nm～10μm
● 浓度范围 0.00001～40％
● 温度范围0～90℃*
规格
*1 本设备划分在激光**基准（JIS C 6802）的等级内。
*2 Latex120nm：0.00001 ～ 10％、牛黄胆酸：～40%
*3 标准glass cell的批量测量的情况。
一次性cell或连续测量时， 15 ～ 40℃ （不对应温度梯度）
*4 选配功能
关于测量仪器
「作为分光测量的领军者，我们引以为豪的是不断进取，从光源、照明、材料膜厚测量，一直发展到探索新的领域。
在1980年代初期，自动记录光度计作为分光测量中不可或缺的主流，采用的是通过信号条移动光栅的机制。当时拥有独特产品特长的大塚电子公司，采用了同时期*先进技术——光电二极管阵列作为传感器，并在光学系统中使用光纤，通过计算机控制，创造出了具有划时代意义的分光分析装置「多通道分光光谱仪(MCPD)」，给科学测量设备行业注入了新风。
由于MCPD是一个全新概念的检测器，因此刚开始时被限制在大学和先进的研究部门中使用。
但是，我们引入了数字技术来替代传统的模拟技术，进行了软件开发和应用开发，以满足客户的需求，并建立了相应技术。不久之后，新概念的价值得到了理解，并被采纳于电子及其他许多行业中，我们提供的系统可以覆盖从研究开发、生产线、质量管理等广泛领域。现在，MCPD是大塚电子光测量设备的核心。
以MCPD为基础开发的产品中，例如膜厚测量设备，可在处理半导体晶圆上生成的膜的同时进行测量，以及在生产线上测量食品包装用薄膜的膜厚的设备等。在其他领域中，还有评估光源本身的如LED和车前灯等装置的设备，以及液晶电视和平板电脑用零部件的评估设备，以及用于显示器生产线的评估设备等。
分光测量业务将持续不断地向小型检测器添加不同的新技术，不断开发高精度、高灵敏度、易于使用的设备，以满足各种领域的需求。