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Otsuka大塚高速相位差测量装置
产品型号:RE-200
产品品牌:Otsuka大塚
产品介绍:

产品信息 特 点 可测从0nm开始的低(残留)相位差 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.) (相当于世界*快速的0.1秒以下来处理) 无驱动部,重复再现性高 设置的测量项目少,测量简单

详细介绍
高速相位差测量装置 RE-200

产品信息 特 点 可测从0nm开始的低(残留)相位差 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.) (相当于世界*快速的0.1秒以下来处理) 无驱动部,重复再现性高 设置的测量项目少,测量简单



产品信息

特 点

● 可测从0nm开始的低(残留)相位差
● 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.)
(相当于世界*快速的0.1秒以下来处理)
● 无驱动部,重复再现性高
● 设置的测量项目少,测量简单
● 测量波长除了550nm以外,还有各种波长
● Rth测量、全方位角测量
(需要option的自动旋转倾斜治具
● 通过与拉伸试验机组合,可同时评价膜的偏光特性和光弾性
(本系统属特注。)


   

测量项目

● 相位差(ρ[°], Re[nm])
● 主轴方位角(θ[°])
● 椭圆率(ε),方位角(γ)
● 三次元折射率(NxNyNz)


   

用 途

● 位相差膜、偏光膜、椭圆膜、视野角改善膜、各种功能性膜
● 树脂、玻璃等透明、非均质材料(玻璃有变形,歪曲等)


原 理

● 什么是RE-200
● RE-200是光子结晶素子(偏光素子)、CCD相机构成的偏光计测模块和透过的偏光光学系相组合,可高速且高精度的测量位相差(相位差)、及主轴方位角。CCD相机1次快门获取偏光强度模式,没有偏光子旋转的机构,系统整体上是属于小型构造,长时间使用也能维持稳定的性能。

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执行拟合/傅立叶变换以计算椭圆度 ε 和方位角 γ 。
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产品规格