产品信息 特 点 可测从0nm开始的低(残留)相位差 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.) (相当于世界*快速的0.1秒以下来处理) 无驱动部,重复再现性高 设置的测量项目少,测量简单
产品信息
特 点
● 可测从0nm开始的低(残留)相位差 ● 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.) (相当于世界*快速的0.1秒以下来处理) ● 无驱动部,重复再现性高 ● 设置的测量项目少,测量简单 ● 测量波长除了550nm以外,还有各种波长 ● Rth测量、全方位角测量 (需要option的自动旋转倾斜治具 ● 通过与拉伸试验机组合,可同时评价膜的偏光特性和光弾性 (本系统属特注。)
测量项目
● 相位差(ρ[°], Re[nm]) ● 主轴方位角(θ[°]) ● 椭圆率(ε),方位角(γ) ● 三次元折射率(NxNyNz)
用 途
● 位相差膜、偏光膜、椭圆膜、视野角改善膜、各种功能性膜 ● 树脂、玻璃等透明、非均质材料(玻璃有变形,歪曲等)
原 理
● 什么是RE-200 ● RE-200是光子结晶素子(偏光素子)、CCD相机构成的偏光计测模块和透过的偏光光学系相组合,可高速且高精度的测量位相差(相位差)、及主轴方位角。CCD相机1次快门获取偏光强度模式,没有偏光子旋转的机构,系统整体上是属于小型构造,长时间使用也能维持稳定的性能。