产品信息 特征 通过分光光度分布对紫外光进行高精度测量 从配光上评估紫外光的*大发光强度、光束开度、光束光通量 涵盖从紫外线到可见光的波长范围 支持从 LED 芯片到模块和应用
产品信息
特征
● 通过分光光度分布对紫外光进行高精度测量
● 从配光上评估紫外光的*大发光强度、光束开度、光束光通量
● 涵盖从紫外线到可见光的波长范围
● 支持从 LED 芯片到模块和应用产品的广泛样品
● 用软件批量控制电源和测量仪器
评价项目
紫外线辐射强度或辐照度中的光分布角分布
*大光度、光束开度、光束光通量
辐射通量、辐射强度、辐照度
总光通量
光谱数据
根据配光测量系统的测量项目
总光通量、色度坐标xy、uv、u'v'相关色温、Duv、主波长、刺激纯度显
色指数Ra、R1至R15
峰值波长、半值范围
规格
设备配置
GP-510U
桌面型设备。将 LED 芯片放置在水平面上并进行测量。 受光部一侧为1轴，样品侧为1轴的驱动系统。 由于样品可以放置在平坦的表面上，因此测量再现性和位置调整很容易。 适用于测量LED芯片等不易安装的小样品。
GP-500 / GP-1100
桌面型设备。这是一般配光装置的光学系统。 受光部分与样品部分高度相同，样品侧采用2轴驱动系统。 它可以处理从芯片类型到小模块样品的广泛产品。
GP-2000