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Otsuka大塚电子粒度仪
产品型号:半导体行业ELSZneo是ELSZ系列中的前沿产品
产品品牌:Otsuka大塚电子
产品介绍:

Otsuka大塚电子的晶圆膜厚仪采用分光干涉法进行非接触、无损测量,适用于硅晶圆、玻璃基板等材料的厚度检测,具备高精度、实时监测等特点。

详细介绍

Otsuka大塚电子的晶圆膜厚仪采用分光干涉法进行非接触、无损测量,适用于硅晶圆玻璃基板等材料的厚度检测,具备高精度、实时监测等特点。 ‌

ELSZneo是ELSZ系列中的前沿产品,可以测量从稀溶液到浓溶液的 Zeta 电位和粒径以及分子量测量。作为一项新功能,我们采用了多角度测量来提高分辨率它还可以进行颗粒浓度测量、微流变测量和凝胶网络结构分析。

新型 Zeta 电位平板样品池具有新开发的高盐度对应涂层,可在生理盐水溶液等高盐环境中测量。我们还有一系列超微量池单元,测量仅微量3μL样品的粒径,扩展了生命科学领域的可能性。

(*选配功能)

  • 可测量从稀溶液到浓溶液 (~ 40%) 的宽浓度范围内的粒径和 Zeta 电位

  • 多角度测量可实现高分辨率粒度分布测量

  • 可在高盐环境下测量平面样品的 Zeta 电位

  • 可以使用静态光散射法测量粒子浓度

  • 可通过动态光散射法进行微流变测量

  • 可以通过测量凝胶样品的多个点来评估凝胶的网络结构和不均匀性

  • 使用标准流体样品池可以连续测量粒径和 Zeta 电位

  • 具有0到90℃之间的宽温度范围

  • 通过温度梯度功能可以进行蛋白质的变性、相变温度分析等

  • 通过测量样品池中的电渗透流量和绘图分析提供高精度的 zeta 电位测量结果

  • *可安装荧光截止滤光片

 Specifications

测量原理 粒径 动态光散射法(光子相关法)
Zeta 电位 电泳光散射法(激光多普勒法)
分子量 静态光散射法
光学系统 粒径 零差光学系统
Zeta 电位 外差光学系统
分子量 零差光学系统
光源 大功率半导体激光器
检测器 高灵敏度 APD
样品池
标准流体样品池(zeta 电位/粒径)
粒径样品池
粒径多角度样品池
温度
0 ~ 90℃ (带温度梯度功能)
电源 220V±10%, 250VA
尺寸重量 330(W) x 565(D) x 245(H)mm, 约 22kg
分子量 340 ~ 2,000x10^4
粒径 0.1 ~ 10,000nm
电泳移动度 -20x10^-4 ~ 20x10^-4cm²/V·s
Zeta 电位 无限制
温度           0 ~ 90℃
浓度          

*粒径: 0.00001%(0.1ppm) ~ 40%,

  Zeta 电位: 0.001% ~ 40


 Measurement 

  测量项目

    ● 分子量

    ● 粒径

    ● Zeta 电位

    ● 粒子浓度

    ● 微流变

    ● 凝胶的网络结构

  测量范围

*乳胶 112nm: 0.00001 ~ 10%, 牛磺胆酸: ~ 40% 

 Applications 

   ELSZneo非常适合在表面化学、无机物质、生命科学、半导体、聚合物、生物学、制药和医学领域中,不仅是细微颗粒,也非常适合薄膜和平板的处理表面科学的基础和应用研究。


● 新型功能材料

  - 燃料电池(碳纳米管、富勒烯、纤维素纳米纤维、功能薄膜、催化剂、纳米金属)

  - 生物纳米技术(纳米胶囊、树枝状大分子、DDS、生物纳米颗粒)、纳米气泡、生物相容性材料


● 陶瓷和颜料

  - 陶瓷(二氧化硅、氧化铝、二氧化钛)

  - 无机溶胶的表面改性、分散、凝聚的控制

  - 炭黑和有机颜料的分散和凝聚

  - 浆态样品

  - 彩色滤光片

  - 浮选吸附研究


● 半导体

  - 晶圆表面异物附着的机理研究

  - 研磨剂/添加剂在晶圆表面的相互作用研究

  - CMP浆料


● 聚合物和化工

  - 乳液(油漆/粘合剂)的分散/聚集控制,乳胶的表面改性(医药/工业用途)

  - 聚电解质(聚苯乙烯磺酸盐、聚羧酸等)、功能纳米粒子的功能研究

  - 纸浆造纸过程控制与纸浆添加剂研究


● 医药/食品工业领域

- 乳液(食品/香料/医疗/化妆品)的分散/聚集控制,蛋白质功能

- 脂质体/囊泡的分散/聚集控制,表面活性剂(胶束)的功能