日本pillar皮拉半导体接头/PFA入珠/PFA弯头PFA/PTFE接头与软管
KOSAKA小坂研究所，营业项目：自动车光电半导体精密测定机器，表面粗度测定机，微细形状测定，轮廓形状测定机，真圆度测定/真圆度圆筒形状测定机
美国Filmetrics薄膜厚度仪F20,美国Filmetrics薄膜厚度仪F30,美国Filmetrics薄膜厚度仪F40,美国Filmetrics薄膜厚度仪F50,美国Filmetrics薄膜厚度仪F60,美国Filmetrics薄膜厚度仪F3-XXT
对比度仪CT-1日本壶坂TSUBOSAKA株式会社中国代店：日本TSUBOSAKA壶坂株式会社：中国代理店，TSUBOSAKA壶坂华东代理， TSUBOSAKA壶坂华北代理，TSUBOSAKA壶坂华南代理，TSUBOSAKA壶坂华中代理，TSUBOSAKA壶坂西南代理。日本TSUBOSAKA壶坂株式会社：中国代理店日本TSUBOSAKAELECTRIC SMD-81T壶坂 光圈面积光量比测量.TSUBOSAKA壶坂电机株式会社主营产品:TSUBOSAKA壶坂电机辉度箱、TSUBOSAKA壶坂电机灯箱、TSUB...
晶圆切割 测试 封装光罩OLED/LCD、面板贴合、偏光片SIMCO‑ION μWire AeroBar® 5710（思美高 5710 离子风棒） 定位：微脉冲直流（MicroPulse）+ 钨丝电晕电极的长距离、高速静电消除棒，主打半导体 / 面板 / 洁净室应用
FineLine 喷雾阀 FineLine 喷雾 SV92FL 是一款非接触式喷雾 一种通过不同方法实现低速稳定细线应用的阀门。 这是主机。 使用非接触喷雾法进行细线喷涂 涂层机器人即使在低速移动时也能施加细线。 低粘度液体可进行减少散射的喷洒 紧凑型阀体，节省空间设计 可以对排放流量进行细微调节。 细线喷涂非接触喷雾，细线量小于1毫米 ...
三英 SAN‑EI TECHSV70 适形涂层阀采用独特的方形喷嘴，支持在低流量下实现多种涂层。 它实现了稳定的应用轨迹而不溅水，且由于其高速响应，即使在多个关键区域应用时也能实现出色的液体截止性能。 （不兼容循环液体剂温控系统） 方形喷嘴实现了优异的喷涂模式 矩形喷嘴直径可减少液体堵塞 采用水泥材料制造，保证长期稳定排放 等...
高精度、全自动涂布机，高度控制生产流程和产品质量。 涂装流体魔法的感官教学 配备3WAY-SKY相机（兼容示教、位置校正和检查） 可配备高精度涂层阀SV70 配备涂布宽度确认传感器，实现准确的涂布宽度。 通过 5 轴驱动（包括倾斜和旋转）可以实现灵活的应用操作。 产品规格 ...
高精度±0.25%F.S.±1digit以下(包含使用温度0～50℃温度特性的综合精度) 传感器和开关均可使用 可在AC100V/AC200V下使用，支持AC通用电源 可视化现场显示的*佳选择 测量介质 水、油、气体等不会腐蚀Hastelloy哈氏合金 C-22同等材料及SUS316L的介质 测量种类 可...
通过将玻璃和透明材料与高脉冲皮秒激光器及专有深焦激光瓶切割器结合，切割 和钻孔厚板（T≧25毫米）成为可能。 啤酒切割头和玻璃断头从左到右排列以支撑激光，光程调节框架空间错落在垂直板上，*后由防尘罩保护。 （1）大理石桌面：作为加工设备设计时，使用膨胀系数较低的大理石等重材料以消除热膨胀和惯性振动。 （2-1）红外...
高分辨率：使用平面消差物镜拍摄高NA高分辨率图像，准确且忠实地观察样品颜色。 从微距到微观：实现20：1的变焦比（0.75-15X），在相同焦距物体下实现超长工作距离，并用一台设备完成从宏观观测到微观分析的全部任务。 高可扩展性：采用并行光学系统，允许添加多种光学系统，轻松实现同轴滴落观测、落光荧光观测和多人观测。 人体工学设计：市面上有多种凹...
作为一种显微拉曼光谱设备，它能够对微观区域内物质进行高精度的分子结构分析。 配备532纳米或632纳米激光器，能够无损分析样品的化学性质和晶体结构。 它以低成本提供高性能，支持从研发到质量控制的广泛应用。 其紧凑设计支持现场测量，且使用专用软件操作简便。 凭借其高可靠性和操作简便性，从研发到生产现场的广泛应用中应用。
一种极其紧凑且成本低廉 的平面基底透射/反射率测量装置。 这是一种非常紧凑的平面基板透透/反射率测量单元，可以安装在桌面上。 通过积分球，测量可以“轻松”、“任何人”且“可重复”，成本低。 此外，该测量方法对样品厚度或倾斜变化的影响较小。 外径值（吸光度）也可以测量。 ·颜色可通过CIE和UCS地图直观识别。 ·遮光罩能阻挡散射光...
QE-SA100 是一种低成本且紧凑的系统，能够实现可靠的量子效率测量。 通过配备高灵敏度冷却CCD和积分球体的高性能光谱仪，可以捕捉样品中所有荧光发射进行测量。 通过上下移动杠杆，样品放置非常简单。 内置USB CCD摄像头可以观察样品表面。 此外，内置标准校准光源，便于简单的校准任务。 ·使用配备高灵敏度冷却CCD的高性能光谱仪。 ·通过积分球，可以捕获样品中所有的荧光发射进行测量。 ·上下移动...
一种低成本的光谱薄膜厚度测量仪器，应用于工业领域。 非接触式且无损性的，因此可以在短时间内轻松测量，而不会损坏样品。 被广泛应用于研发领域，用于胶片厚度测量和在线质量控制。 以低价实现了高精度和高稳定性。 ·可进行非接触式、无损膜厚度测量。 ·厚度*高可达10nm~1000μm，支持测量多达3层薄膜厚度。 ·它不仅能测量胶片厚度，还能测量光学倍增管（n，...
测量可以用电解液电解的金属薄膜（铬、镍、铜、锡、无电镍、铁、锌、银、银等）的薄膜厚度。 这是一种高精度薄膜厚度计，支持多种电镀方式。 特点： 1.PC规范以实现完整功能 易于使用，对话格式易于操作，数据处理也方便。 还增强了潜在图显示和统计处理等功能。 测量条件可记录至50 Ch。 2.纯锡层与合金锡层的单独测量 “锡/铜”测...