产品信息 特 点 可测从0nm开始的低（残留）相位差 光轴检出同时可高速测量相...

PP-1000小角激光散射仪，利用小角激光散射法（Small Angle Laser Scatterin...

产品信息 特点 可在紫外和可见（250至800nm）波长区域中测量椭圆参数 可分析...

● nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法（DLS法）测量粒径（粒径0.6nm~10um）的...

产品信息 特 点 采用了偏光光学系和多通道分光检出器 有可对应各种尺寸的装...

产品信息 特点 以透过光谱测量、色测量为代表，通过浓度测量、膜厚测量、反...

产品信息 特点 使用了*新型高感度APD，感度提升及缩短测量时间 通过测量自动...

产品信息 特 点 测量精度高 可瞬间测量**量子效率（**量子收率） 可去除再激...

可携带至现场的手持式可测量0.1μm单位，具有形状的样品也可非破坏的测量，...

采用线扫描方式检测整面薄膜 硬件软件均为**设计 作为专业膜厚测定厂商，提...

产品信息 特点 **高速高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测 硬件软件均为*...

产品信息 特 点 采用分光干涉法 搭载高精度FFT膜厚解析系统（** 第4834847号...

产品信息 特点 支持集成到 Φ300mm EFEM 单元的备用端口 实现嵌入在晶片中的...

标准型系统采用电子冷却型图像二极管,实现高S/N。 轻量、紧凑的竖立式设计...

产品信息 特长 应用广泛的测量仪。 以*高机型MCPD-9800为首，一共有3种对应...

测量项目：[膜厚、折射率n、消光系数k]. 测量原理：[分光干涉法]. 测量对象...

即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强...

大冢电子利用光学干涉仪和自有的高精度分光光度计，实现非接触、无损、高速...

日本大塚电子株式会社是以光技术为核心的检测仪器公司，从事用于开发、制造...

日本大塚电子株式会社是以光技术为核心的检测仪器公司，从事用于开发、制造...